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鎂光年中量產(chǎn)25nm NAND閃存 明年將轉(zhuǎn)向更高級(jí)別制程

作者: 時(shí)間:2010-03-04 來(lái)源:theinquirer 收藏

  公司閃存市場(chǎng)開(kāi)發(fā)部門(mén)的經(jīng)理Kevin Kilbuck近日透露計(jì)劃明年將其閃存芯片制程轉(zhuǎn)向以下級(jí)別,他表示今年年中將開(kāi)始批量生產(chǎn)制程閃存芯片,并將于明年轉(zhuǎn)向更高級(jí)別的制程。他并表示鎂光也計(jì)劃開(kāi)發(fā)自己的電荷捕獲型(charge trap flash (CTF))閃存技術(shù),以取代現(xiàn)有的浮柵型( floating-gate)NAND閃存技術(shù)。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/106548.htm

  Killbuck還向Digitimes網(wǎng)站表示,鎂光的新款NAND閃存芯片將遵循新的EZ-NAND規(guī)范。目前開(kāi)放式NAND閃存接口工作組( Open NAND Flash Interface (ONFI) industry working group)正在編制EZ-NAND規(guī)范標(biāo)準(zhǔn),預(yù)計(jì)該標(biāo)準(zhǔn)的編制工作將于今年年中完成。

  EZ-NAND規(guī)范的重要特性是要求NAND閃存芯片內(nèi)建ECC糾錯(cuò)功能,這樣設(shè)計(jì)者便不需要頻繁改進(jìn)閃存控制器以便滿(mǎn)足ECC糾錯(cuò)的需求。



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