新聞中心

EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 基于FPGA的檢糾錯(cuò)邏輯算法的實(shí)現(xiàn)

基于FPGA的檢糾錯(cuò)邏輯算法的實(shí)現(xiàn)

作者: 時(shí)間:2011-09-19 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

星載計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中電子器件容易受到空間環(huán)境電磁場的輻射和重粒子的沖擊,從而導(dǎo)致器件運(yùn)行出錯(cuò),特別是存儲(chǔ)器中數(shù)據(jù)容易出現(xiàn)錯(cuò)誤,需要具有檢功能的電路模塊對其進(jìn)行糾正,以免造成嚴(yán)重的后果。漢明碼的原理.根據(jù)對64位數(shù)據(jù)進(jìn)行檢處理的需要,設(shè)計(jì)一個(gè)利用8位校驗(yàn)碼,以該功能的,并通過。經(jīng)過仿真驗(yàn)證,該模塊具備檢測2位錯(cuò)誤,糾正1位錯(cuò)誤的功能,而且也能較好地滿足實(shí)時(shí)性的要求,具有一定的實(shí)際應(yīng)用意義。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/150201.htm

  引 言

  隨著現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展,作為現(xiàn)代高科技代表的航天工程,對星載計(jì)算機(jī)的依賴程度也越來越高。由于宇宙中存在著大量的帶電粒子,星載計(jì)算機(jī)硬件系統(tǒng)的電子器件會(huì)受到電磁場的輻射和重粒子的沖擊,其相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng),其中單粒子反轉(zhuǎn)(SEU)效應(yīng)的影響尤為明顯,它將引起衛(wèi)星工作的異?;蚬收稀_@種錯(cuò)誤若不及時(shí)進(jìn)行糾正,將會(huì)影響計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的運(yùn)行和關(guān)鍵數(shù)據(jù)的正確性,造成程序運(yùn)行不穩(wěn)定和設(shè)備狀態(tài)改變。

  1 糾錯(cuò)原理

  漢明碼(Hamming Code)是由Richard Hamming于1950年提出的,屬于線性分組碼的范疇,其基本原理是將信息碼元與監(jiān)督碼元通過線性方程式聯(lián)系起來的,每一個(gè)監(jiān)督位被編在傳輸碼字的特定比特位置上。系統(tǒng)對于錯(cuò)誤的數(shù)位無論是原有信息位中的,還是附加監(jiān)督位中的都能把它分離出來。(n,k)線性分組碼的生成矩陣G和校驗(yàn)矩陣H分別為n×k和n×(n-k)維矩陣,其中校驗(yàn)矩陣H決定信息位與校驗(yàn)位的關(guān)系,在編碼和譯碼中都要用到。線性碼的最小碼距為d,即校驗(yàn)矩陣H中任意d-1列線性無關(guān),它與碼的糾錯(cuò)能力有以下關(guān)系:

  (1)檢測P個(gè)隨機(jī)錯(cuò)誤,要求d≥e+1;

  (2)糾t個(gè)隨機(jī)錯(cuò)誤,要求d≥2t+1;

  (3)糾t個(gè)隨機(jī)錯(cuò)誤,同時(shí)檢測e(e≥t+1)個(gè)隨機(jī)錯(cuò)誤,要求d≥e+t+1。

  作為一種典型的線性分組碼,標(biāo)準(zhǔn)漢明碼的碼長n=2m-1,監(jiān)督位數(shù)為m,信息位數(shù)為k=n-m,最小碼距d=3,因此它的糾錯(cuò)能力t=1,是一種常用糾單個(gè)位錯(cuò)誤的編碼方式。還可以根據(jù)需要對標(biāo)準(zhǔn)漢明碼進(jìn)行擴(kuò)展,增加1個(gè)校驗(yàn)位對所有位進(jìn)行監(jiān)測,就得到擴(kuò)展?jié)h明碼。1個(gè)(n,k)漢明碼經(jīng)過擴(kuò)展以后,就變成了(n+1,k)漢明碼。擴(kuò)展以后的漢明碼d=4,t=2,e=1,可以糾正單個(gè)位錯(cuò)誤,并檢測出雙位的錯(cuò)誤。對64位的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾錯(cuò)設(shè)計(jì),滿足信息位數(shù)大于64要求的最短的標(biāo)準(zhǔn)漢明碼為n=26-1時(shí)的(127,120)碼,它具有7個(gè)監(jiān)督校驗(yàn)位。根據(jù)漢明碼信息位刪減后其糾錯(cuò)能力較之前不會(huì)降低的特性,將該碼的信息位縮短為64位,使用了(71,64)的刪減漢明碼。這里設(shè)計(jì)了一種7個(gè)校驗(yàn)位同64個(gè)信息位的對應(yīng)計(jì)算關(guān)系如圖1所示。

  

  圖1中DA0~DA63為信息位;CC0~CC6為監(jiān)督校驗(yàn)位。其中CCO是所有位于編號末位數(shù)為1列中信息位數(shù)據(jù)的奇偶校驗(yàn)計(jì)算結(jié)果。與之類似,CCl對應(yīng)于所有位于編號次低位數(shù)為1列中的信息位。同理,CC3~CC6分別對應(yīng)了行號各位數(shù)為1行中的信息位數(shù)據(jù)。通過這個(gè)對應(yīng)關(guān)系表,可以得出整個(gè)漢明碼的生成公式:

  M=DG

  式中:M為生成的(71,64)漢明碼矩陣,每個(gè)行向量是一組漢明碼;D為信息位數(shù)據(jù)矩陣行,64個(gè)信息位組成一個(gè)行向量;G成為漢明碼生成矩陣,可以根據(jù)上述的對應(yīng)計(jì)算關(guān)系得出來。


上一頁 1 2 3 下一頁

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉