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MEMS 基礎(chǔ)知識介紹

作者: 時間:2012-01-10 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

日益增加的復(fù)雜性需要設(shè)計流程允許工程師在構(gòu)造實際硅片之前模擬整個制造分布、所有環(huán)境和操作條件的整個多模系統(tǒng)。這使工程師能夠快速、積極地優(yōu)化設(shè)計,以便最大限度地提高系統(tǒng)準(zhǔn)確性和可靠性,同時最大限度地減少流程變化和其他無法預(yù)見的相互作用而引起的輸出損失。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/190839.htm

  用于協(xié)同模擬的精確的統(tǒng)計轉(zhuǎn)換器模型及其相關(guān)信號處理和控制安全對于建立面向智能系統(tǒng)的強大設(shè)計流程是必需的。轉(zhuǎn)換器模型生成可能是時間密集型任務(wù),特別是對于具有獨特幾何屬性的新型結(jié)構(gòu)或帶有很難在分析方程式中發(fā)現(xiàn)的二階影響的運動方程式。模型降階 (MOR) 領(lǐng)域的進(jìn)展專門應(yīng)對這些挑戰(zhàn)。

  過去,組件的機電行為一直采用傳統(tǒng)的有限元素和邊界元素方法進(jìn)行分析。商用三維解算器允許非常準(zhǔn)確、非常詳細(xì)地模擬 轉(zhuǎn)換器的物理行為,因此它們傾向于成為 MEMS 組件設(shè)計師選用的工具。然而,這種模擬極其耗時,對于運行耦合場分析方面的功能仍然有限,不輕易允許與接口電子器件協(xié)同模擬,因此,它們在實現(xiàn)整個系統(tǒng)的優(yōu)化和特性化方面幾乎不起作用。

  常用方法是生成一個MEMS元素庫,這些MEMS元素可被組裝,構(gòu)建一個MEMS 器件的示意圖。這些子元素可能源自于理論、試驗結(jié)果或FEA模擬。 這種方法對架構(gòu)分析非常有用,因為它能夠讓設(shè)計師快速發(fā)現(xiàn)標(biāo)稱轉(zhuǎn)換器設(shè)計中的變化影響,然而它不能始終捕捉相關(guān)主體的真正靈活性,特別是當(dāng)子元素被視為剛性體的時候。這可能導(dǎo)致對結(jié)構(gòu)的剛度估計過高,并有忽視關(guān)鍵固有模式的危險,實際上可能阻礙整個系統(tǒng)的正常運行。

  為了對顯微結(jié)構(gòu)的固有靈活性精確建模并捕捉二階和非線性行為,需要更適當(dāng)?shù)慕惦A建模方法。一種方法是模態(tài)疊加,提供轉(zhuǎn)換器的最高效表達(dá)。模態(tài)疊加采用最低數(shù)量的狀態(tài)變量來捕捉的結(jié)構(gòu)的真實彈性。通過改變模型生成過程中包含的固有模式數(shù)量,很容易做到速度和準(zhǔn)確度平衡??梢蕴砑痈郊有螤詈瘮?shù)(additional shape function),來提高系統(tǒng)模擬的準(zhǔn)確度。圖1顯示了一個示例,說明如何使用模態(tài)疊加和附加形狀函數(shù)來實現(xiàn)轉(zhuǎn)換器上的封裝效果的預(yù)期準(zhǔn)確度。從實驗室測量結(jié)果中提取模型和頻率要比確定剛度更容易,所以這種模型的硅驗證非常直接。這種高度準(zhǔn)確的降階建模方法應(yīng)當(dāng)用于組件和系統(tǒng)的低級檢驗,且必須結(jié)合對制造分布的統(tǒng)計建模。

  理想情況是,應(yīng)當(dāng)避免‘點’或非擴展建模解決方案,因為它們限制了設(shè)計師在系統(tǒng)水平上探索和優(yōu)化設(shè)計空間的能力。模型應(yīng)將大小信號行為的幾何、流程和環(huán)境變量參數(shù)化。

  只有當(dāng)組件的制造分布被準(zhǔn)確表達(dá)的時候,轉(zhuǎn)換器模型才真正有用。流程變量,如膜厚度、蝕刻偏差方面的變化,會導(dǎo)致了轉(zhuǎn)換器行為變化,這種變化必須通過信號處理,在系統(tǒng)水平上進(jìn)行調(diào)節(jié)。低估這種變化可能導(dǎo)致最終測試時出現(xiàn)輸出損失,而高估則可能導(dǎo)致會減少毛利的保守設(shè)計。只要核心建模的基本方程式準(zhǔn)確捕捉了物理變量對轉(zhuǎn)換器行為的影響,固體統(tǒng)計建模就可能產(chǎn)生。統(tǒng)計分布很容易從制造目標(biāo)或采用諸如后向傳播變量(IC 行業(yè)非常出名)等方法對實際制造數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣而得到。從鑄造過程中實際測量的度量指標(biāo)中獲取統(tǒng)計數(shù)據(jù)的好處就是能夠提供檢驗設(shè)計環(huán)境和制造分布一致性的長期方法。圖2 顯示了特定轉(zhuǎn)換器測試條件下硅數(shù)據(jù)與統(tǒng)計建模的比較示例。角文件包含特定西格瑪水平的統(tǒng)計建模結(jié)果。

  無論使用哪種特殊方法建造轉(zhuǎn)換器模型,模型生成自動化對于將設(shè)計周期縮短到參與今市場競爭所要求的水平至關(guān)重要。為了滿足目前和未來的產(chǎn)品設(shè)計需求,MEMS系統(tǒng)設(shè)計的商用工具必須提供方法,從轉(zhuǎn)換器設(shè)計師的有限元素環(huán)境直接獲取結(jié)果并將結(jié)果用于生成可由系統(tǒng)和電路設(shè)計師在行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模擬IC 設(shè)計流程中使用的緊湊型轉(zhuǎn)換器模型。這種方法將縮短周期時間,減少錯誤,并允許設(shè)計周期中的創(chuàng)新。

  MEMS 模型由系統(tǒng)和IC 設(shè)計師使用,因此模型應(yīng)當(dāng)盡可能緊密地集成到用戶的設(shè)計流程。對于IC 設(shè)計師,這需要模型支持所有模擬器,具有設(shè)計流程中的各種實體化等級的多種視圖。實現(xiàn)這一功能并非易事,需要考慮質(zhì)量保證、模型驗證和實驗室管理的最佳實踐。如果采用特別方法,模型使用將受損。為了促進(jìn)建模流程的更大結(jié)構(gòu)化,各公司應(yīng)當(dāng)采用設(shè)計套件。這些套件類似于鑄造車間提供的標(biāo)準(zhǔn)IC 設(shè)計套件,執(zhí)行所提到的最佳方法。

  傳感器公司應(yīng)當(dāng)期望增加目前和可預(yù)見未來可提供的任何商用工具。MEMS設(shè)計流程中使用的工具和方法必須支持自動化模型生成、相對于系統(tǒng)性能的變量參數(shù)化、可擴展模型和IC 設(shè)計流程集成。但是最顯而易見的是,需要投資建立可靠的統(tǒng)計模型,它能捕捉制造分布,并能讓設(shè)計環(huán)境與制造場所隨時保持一致。捕捉所討論的所有元素的MEMS流程對于實現(xiàn)下一代傳感器產(chǎn)品的最佳解決方案非常關(guān)鍵。



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