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使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)放大器性能進(jìn)行分析

作者: 時(shí)間:2012-04-23 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

放大器的測(cè)試指標(biāo)可以分為兩類(lèi):線(xiàn)性指標(biāo)測(cè)試和非線(xiàn)性指標(biāo)測(cè)試。線(xiàn)性指標(biāo)的測(cè)試基于S參數(shù)的測(cè)量,采用常規(guī)完成。對(duì)于非線(xiàn)性指標(biāo)的測(cè)試,傳統(tǒng)測(cè)試方案采用頻譜儀加信號(hào)源方法,但這種方案有很多缺點(diǎn):1)無(wú)法實(shí)現(xiàn)同步掃頻、掃功率測(cè)試。2)不能進(jìn)行相位測(cè)量,如幅度相位轉(zhuǎn)化(AM/PM)測(cè)量。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/193993.htm

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RS ZVB采用創(chuàng)新的硬件結(jié)構(gòu),其輸出功率很高、功率掃描范圍寬,因而無(wú)需另外單獨(dú)使用前置放大器,一次掃描即可確定放大器功率壓縮特性。ZVB采用了強(qiáng)大的自動(dòng)電平控制設(shè)計(jì)以及高選擇性、高靈敏性的接收機(jī),因而可在較寬的動(dòng)態(tài)范圍下進(jìn)行放大器的諧波測(cè)試而無(wú)需使用外部濾波器。

此外RS ZVB提供了豐富的測(cè)試功能和友好的操作界面,使得放大器的各種指標(biāo)測(cè)試變得簡(jiǎn)單又直觀(guān)。

端口匹配特性測(cè)量

端口匹配特性主要測(cè)試端口的S11與S22參數(shù)。如端口1的S11參數(shù)等于反射信號(hào)b1與入射信號(hào)a1之比:

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S11參數(shù)也可稱(chēng)為輸入反射因子。S11為復(fù)數(shù),工程上通常用回波損耗(RL)和駐波比(VSWR)來(lái)表達(dá)端口的匹配程度。S11與這兩個(gè)參數(shù)的關(guān)系如下:

回波損耗 RL = - 20log(r),其中r = |S11|

駐波比 2.jpg

以上兩個(gè)參數(shù)與S11的換算由ZVB自動(dòng)完成,用戶(hù)只需要在[Format] 菜單中選擇[dB Mag]->回波損耗,[SWR]->駐波比,就可以顯示相應(yīng)的測(cè)試曲線(xiàn)。

ZVB提供軌跡統(tǒng)計(jì)功能[Trace Statistics],可自動(dòng)顯示軌跡的最大值、最小值和峰-峰值,并且可以通過(guò)設(shè)置 [Eval Range],來(lái)調(diào)整統(tǒng)計(jì)頻率范圍。該功能對(duì)帶限器件(如濾波器)的帶內(nèi)指標(biāo)測(cè)試非常有用。

在電路設(shè)計(jì)的過(guò)程中,精確輸入阻抗信息對(duì)于設(shè)計(jì)人員更為重要。比如:在手機(jī)板設(shè)計(jì)中,設(shè)計(jì)人員要精確測(cè)試前端放大器的輸入、輸出阻抗,然后根據(jù)輸入、輸出阻抗信息設(shè)計(jì)對(duì)應(yīng)的匹配網(wǎng)絡(luò),達(dá)到手機(jī)的最大功率發(fā)射和最佳的整機(jī)靈敏度。輸入阻抗與S11的關(guān)系如下:

3.jpg, 其中Z0=50Ω

用戶(hù)通過(guò)選擇[Format] 鍵中的[Smith]菜單顯示阻抗測(cè)試軌跡,通過(guò)設(shè)置Marker可以方便的測(cè)得每一頻點(diǎn)對(duì)應(yīng)的輸入電抗和電阻。另外ZVB標(biāo)配的虛擬加嵌功能,能模擬在輸入、輸出端口加上虛擬的匹配網(wǎng)絡(luò)之后整個(gè)網(wǎng)絡(luò)的性能。該功能大大簡(jiǎn)化了設(shè)計(jì)人員的工作量,無(wú)需實(shí)際的電路調(diào)整,就能預(yù)測(cè)調(diào)整后的DUT性能。用戶(hù)通過(guò)選擇[Mode]菜單中的[Virtual Transform]來(lái)激活該功能。

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傳輸參數(shù)測(cè)量

除了端口匹配特性的測(cè)量,放大器前向放大和反向隔離特性也可分別由測(cè)試S21和S12得到。前向的傳輸參數(shù)S21等于在端口2測(cè)得前向功率b2與端口1的激勵(lì)功率a1的比值:

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而放大器的增益等于S21絕對(duì)幅度的對(duì)數(shù)值:

增益 Gain = 2.jpg

反向的傳輸參數(shù)S12等于在端口1測(cè)得反向功率b1與端口2的激勵(lì)功率a2的比值:

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而放大器的反向隔離度等于S12絕對(duì)幅度的對(duì)數(shù)值:

隔離度 Isolation = -20log( |S12| )

用戶(hù)只需分別設(shè)置S21和S12的 顯示格式為dB([format] -> [dB Mag]),放大器增益和隔離度即可同時(shí)顯示在ZVB上。

功率壓縮特性測(cè)量

功率壓縮特性的測(cè)試主要用來(lái)衡量待測(cè)件(DUT)的線(xiàn)性度。對(duì)于放大器的測(cè)試,工程上通常采用輸出功率1 dB壓縮點(diǎn)(P1dB )來(lái)表征該特性。P1dB的定義為:隨著輸入功率的增加,放大器的增益下降到比線(xiàn)性增益低1dB時(shí)的輸出功率值,如圖1所示。

ZVB不僅可以測(cè)量參數(shù)隨頻率變化的曲線(xiàn)還可以測(cè)量參數(shù)隨輸入功率變化的曲線(xiàn)。ZVB內(nèi)置信號(hào)源可以提供非常大的功率掃描范圍,其典型值為60dB,而且60dB的功率掃描范圍完全由電子衰減器來(lái)實(shí)現(xiàn)而非采用傳統(tǒng)的機(jī)械步進(jìn)衰減器。機(jī)械式衰減器的幅度可重復(fù)度較差且使用壽命較短,所以ZVB特別適合測(cè)試有源器件的功率壓縮特性。

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ZVB提供多通道(Channel)的測(cè)試功能,不同的通道可以設(shè)置不同的掃描方式,所以可以在一個(gè)通道內(nèi)設(shè)置頻率掃描用于測(cè)試S參數(shù),而在另一通道內(nèi)設(shè)置成功率掃描用于測(cè)量功率壓縮特性,這樣調(diào)試人員就可以在調(diào)試放大器S參數(shù)的同時(shí),觀(guān)察放大器P1dB的變化。用戶(hù)可通過(guò)[Chan select]鍵,選擇[Add Channel + Trace +Diag Area] 菜單來(lái)增加一個(gè)測(cè)試通道,然后選擇[Sweep]鍵中的[Sweep type]菜單,選擇[Power]就可以進(jìn)行功率掃描測(cè)試。另外ZVB 在軌跡統(tǒng)計(jì)功能[Trace Statistics]中提供了自動(dòng)尋找增益壓縮點(diǎn)的功能[Compression Point],方便用戶(hù)快速讀值。

P1dB的測(cè)量涉及到S21隨著絕對(duì)輸入功率變化的曲線(xiàn),而通常用于S參數(shù)相對(duì)量的測(cè)量。為了提高其絕對(duì)測(cè)量精度,推薦使用的功率計(jì)對(duì)矢量網(wǎng)絡(luò)做功率校準(zhǔn)。RS公司的NRP系列功率計(jì)可以通過(guò)USB接口直接和ZVB連接,從而省掉功率計(jì)主機(jī)和昂貴的GPIB卡。ZVB功率校準(zhǔn)過(guò)程分成兩個(gè)過(guò)程:矢量網(wǎng)絡(luò)的內(nèi)部源幅度校準(zhǔn)和接收機(jī)幅度校準(zhǔn)。在第一個(gè)過(guò)程中將功率探頭直接和矢量網(wǎng)絡(luò)的源端口連接,對(duì)應(yīng)選擇 [CAL]鍵下的菜單[Start Power Cal]-> [Souce Power Cal]。第二步將已校準(zhǔn)的源端口和接收端口連接進(jìn)行接收機(jī)的校準(zhǔn),對(duì)應(yīng)選擇 [CAL]鍵下的菜單[Start Power Cal]-> [Receiver Power Cal]。


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