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R&S全面助力萬物互連時代的IC設(shè)計應(yīng)用

—— R&S公司將參展中國集成電路設(shè)計業(yè)2016年會(ICCAD 2016)
作者: 時間:2016-09-30 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  “中國設(shè)計業(yè)2016年會暨長沙產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展高峰論壇”將于2016年10月12-13日在長沙-湖南國際會展中心舉辦?!秶?a class="contentlabel" href="http://www.butianyuan.cn/news/listbylabel/label/集成電路">集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展推進(jìn)綱要》和《中國制造2025》的出臺,為我國集成電路產(chǎn)業(yè)實現(xiàn)跨越式發(fā)展注入了強(qiáng)大動力,本次年會以“湘江芯硅谷,成就芯夢想”為主題,深入探討集成電路產(chǎn)業(yè),特別是集成電路設(shè)計業(yè)面臨的機(jī)遇和挑戰(zhàn);提升創(chuàng)新能力,增強(qiáng)中國集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的綜合能力,以滿足市場的需求和提高國際競爭力。大會將對促進(jìn)產(chǎn)業(yè)整合,提升核心競爭力,實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)規(guī)?;焖侔l(fā)展產(chǎn)生深遠(yuǎn)影響。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/201609/310674.htm

  羅德與施瓦茨公司(Rohde & Schwarz,R&S)作為全球最大的電子和無線移動通信測試設(shè)備廠商之一,將在IC年會上展示其領(lǐng)先的針對IoT 和通用IC設(shè)計與測試的產(chǎn)品和解決方案,包括IoT芯片測試技術(shù),射頻微波芯片測試技術(shù),收發(fā)機(jī)芯片測試技術(shù),收發(fā)機(jī)芯片產(chǎn)線測試方案,先進(jìn)相位噪聲測試技術(shù),先進(jìn)時域測試技術(shù)等方案。同時,針對頻域,時域和信號域的測試,R&S公司帶來了4款明星產(chǎn)品用于現(xiàn)場的演示和交流:

  ZNB20 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

  SMW200A 矢量信號發(fā)生器

  FSVA40 信號與頻譜分析儀

  RTO2044 數(shù)字示波器

  與此同時,R&S公司將在“IC設(shè)計與封裝測試”專題論壇中,以“R&S先進(jìn)IC測試方案,全面助力萬物互連時代的IC設(shè)計應(yīng)用”為主題,全面介紹R&S公司在IoT和通用IC設(shè)計與測試領(lǐng)域的產(chǎn)品和解決方案,特別包含可以加速IC 設(shè)計的獨(dú)有方案,期待與您分享,敬請關(guān)注。

  通過參觀和交流,來賓將體驗到R&S公司的一流產(chǎn)品、服務(wù)以及先進(jìn)理念,領(lǐng)略R&S公司打造的全方位的IC測試方案平臺,來共同促進(jìn)IC產(chǎn)業(yè)的創(chuàng)新與發(fā)展。

  誠邀您光臨R&S公司展臺:湖南國際會展中心 No.78



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