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虹科供應商Pickering和Marvin test助力IC和封裝質(zhì)量光明的未來

作者:廣州虹科電子 時間:2017-08-17 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  供應商正在采取各種方法來提高半導體質(zhì)量并縮短上市時間。產(chǎn)品范圍從PXI和LXI架構(gòu)的儀器模塊到完整的測試和相關系統(tǒng),最后到管理“data lakes”的軟件,應用AI / machine learning進行分析。應用領域也是類似的,從模擬到高速數(shù)字和RF的擴展,無線和IoT設備得到了相當大的關注。 SEMON West定于7月11日至13日在舊金山,為企業(yè)提供突出這些產(chǎn)品和技術(shù)的機會。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/201708/363141.htm

  美國國家儀器公司將重點關注SEMON West的無線技術(shù)。該公司自動化測試團隊的產(chǎn)品營銷經(jīng)理BenRobinson表示:“2017年無線設備的兩大趨勢是802.11ax規(guī)范層即將到來,5G技術(shù)將持續(xù)突破。 “測試802.11ax引入了諸如更嚴格的誤差矢量幅度測量等挑戰(zhàn)。此外,新的802.11ax多用戶OFDMA和MIMO技術(shù)推動了新的測量要求,如接入點功率校正。 同時,5G還為移動無線電帶來了額外的設計和測試挑戰(zhàn)。 5G新的無線電規(guī)范將利用更寬的帶寬和MIMO技術(shù)進行高吞吐量數(shù)據(jù)傳輸,因此需要更高性能的儀器。

  PickeringInterfaces產(chǎn)品經(jīng)理Paul Bovingdon說:“我們專注于測試類型的主要挑戰(zhàn) - 包括瞬態(tài)電荷捕獲和SCPT(單電荷脈沖捕獲)的短路/開路,電容和IV測試 – 日益高漲的I / O數(shù)量。問題是如何同時控制更多的繼電器并盡可能快地進行操作,所以我們在開關系統(tǒng)中添加了可以由測試系統(tǒng)中的其他硬件或軟件觸發(fā)的排序電路。”

  MarvinTest Solutions營銷總監(jiān)Mike Dewey表示:“我們看到降低測試成本是一個持續(xù)的需求或者說趨勢。用戶正在繼續(xù)尋找新的更好的方式來利用他們現(xiàn)有的測試資源; 這可能由于物聯(lián)網(wǎng)設備的出現(xiàn)而加劇,這些設備正在推動量產(chǎn),同時伴隨著相對較低平均售價的需求。”

  SEMON West展覽

  為了應對不斷發(fā)展的無線技術(shù)帶來的挑戰(zhàn),NI提供PXIe-5840矢量信號收發(fā)器(VST)(圖1),該公司將在SEMICONWest展出。 NI的Robinson表示,VST是世界上第一個實現(xiàn)1 GHz帶寬的產(chǎn)品。 它將6 GHz RF矢量信號發(fā)生器,6 GHz矢量信號分析儀,高性能用戶可編程FPGA和高速串行和并行數(shù)字接口組合到一個雙槽PXI Express模塊中。

  Figure 1. PXIe‐5840Vector Signal Transceiver

  “擁有1 GHz的帶寬,最新的VST非常適用于廣泛的應用,包括802.11ac / ax設備測試,移動/物聯(lián)網(wǎng)設備測試,4.9 / 5G設計和測試,RFIC測試等等,羅賓遜說, NI擁有一個平臺,為用戶提供靈活性,以解決即將到來的新的無線連接標準(如802.11ax)的測試需求,即使它們不斷發(fā)展。使用1 GHz的帶寬瞬時,第二代VST ...是測試基于5G的寬帶移動技術(shù)的重要工具。

  Bovingdon說,為了幫助客戶應對高密度的I / O,在SEMICONWest 上Pickering Interfaces將突出其即將發(fā)布的65-221型高密度模塊化LXI舌簧繼電器矩陣(圖2)。“舌簧繼電器矩陣解決方案最初設計用于測試晶圓和封裝級別的半導體,將我們的LXI模塊化矩陣機箱(65-200型)與我們的新插件矩陣模塊相結(jié)合,可以訪問200針連接器上的所有信號連接。 它能夠支持Y軸尺寸為四的矩陣,并可在以128為軸增量的X軸范圍內(nèi)擴展到1,536個。用戶可以根據(jù)需要指定多少或少至幾個插件模塊(最多六個) - 升級機箱以在必要時擴展矩陣。 另外一個重要的特征是可以在特定的參數(shù)測試條件下同時關閉1500個繼電器。”

  Figure 2. Model 65-221 high-density modular LXI reed relaymatrix

  Bovingdon描述了型號65-221,作為LXI舌簧繼電器插件矩陣模塊的新系列的一部分,其中包括三個額外的插件模塊,覆蓋高達768 x 8的增量為64(型號65-223),384 x 16的增量 為32(65-225型),192 x 32為32(型號65-227)。他表示:“每個插件都可以提供單個或雙重128 x 4子矩陣,可將其Y軸連接到12個或6個模擬總線之一(取決于插件模型類型),從而在矩陣配置方面提供高度的靈活性使并行測試更簡單。

  他補充說:“這些插件矩陣還提供了多達5,000個具有觸發(fā)能力的預定義測試序列存儲的內(nèi)置掃描列表,使用戶能夠在LXI儀器上設置一系列預定序列。這些序列可以由軟件或六個軟件可配置觸發(fā)器之一觸發(fā)。”

  PickeringInterfaces還將展示其高密度PXI矩陣,其雙槽USB / LXI模塊化機箱以及Switch Path Manager信號路由軟件。

  此外,兄弟公司Pickering Electronics將突出強調(diào)其舌簧繼電器產(chǎn)品系列,包括三款全系列高壓單列直插式(SIL / SIP)器件,均提供高封裝密度:119系列微型SIL繼電器額定值 高達3 kV。 該公司稱119系列是業(yè)界最小的高壓SIL / SIP干簧繼電器,最高可達3 kV的停電; 它們適用于電纜和背板測試儀和混合信號ATE。

  67和68系列簧片繼電器(圖3)可用于高達10 kV的切換,7.5 kV開關,可選擇PCB或飛行開關連接。 與公司成立的60/65系列的規(guī)格相似,這些新型繼電器采用先前沒有線圈的SIL / SIP格式制造,并配有更常用的線圈支撐線軸,允許比類似額定裝置更小的封裝。

  Figure 3. Series67 dry reed relay rated to 10 kV

  MTS在今年的SEMICON West展出幾款產(chǎn)品,包括TS-960e PXI Express半導體測試系統(tǒng)(圖4)。“去年秋天在Autotestcon推出,TS-960e為數(shù)字,模擬和RF應用提供了具有成本效益的開放式架構(gòu)測試解決方案,” Dewey說。 “借助Keysight的PXIe RF儀器產(chǎn)品組合,TS-960e可以針對無線局域網(wǎng),藍牙,蜂窩,EW和射頻收發(fā)器,為晶圓和封裝測試應用提供廣泛的射頻測試功能。”

  Figure 4. MarvinTest Solutions TS-960e PXI Express半導體測試系統(tǒng)

  MTS還將重點介紹Marvin Test Expansion Kit(MTEK)系列,該系列為傳統(tǒng)半導體測試系統(tǒng)提供測試儀升級解決方案。“基于PXI,MTEK是一種緊湊型解決方案,與傳統(tǒng)測試平臺兼容,包括Teradyne,LTX / Credence和Verigy(Verigy已被Advantest收購),”Dewey說,“MTEK可以配置為支持RF,數(shù)字和模擬功能。”

  Dewey補充到,“測試工程師正在尋找創(chuàng)造性的方法來延長測試系統(tǒng)的使用壽命,具有更多的功能和/或容量。 像MTEK系列這樣的低成本“附加組件”可以幫助您實現(xiàn)這一目標。”

  另外,MTS還擴大了其半導體軟件工具組件,增加了ICEasy測試套件。 該套件包括用于創(chuàng)建測試程序和表征設備的測試開發(fā)工具(包括Shmoo和I-V繪圖)庫; 一個用于將STIL,WGL,VDC / EVCD和ATP文件導入和轉(zhuǎn)換為Marvin Test Solutions數(shù)字儀器文件格式的軟件工具; 和數(shù)字波形編輯/顯示工具。測試套件與ATEasy無縫連接。Dewey總結(jié)說:“像PXI這樣的開放架構(gòu)測試解決方案(硬件和軟件)都是新的測試需求和擴展測試系統(tǒng)的遺留/安裝基礎的可行和引人注目的選擇。”



關鍵詞: 虹科 IC

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