新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 新品快遞 > 新思科技推出業(yè)界首個(gè)全棧式大數(shù)據(jù)分析解決方案

新思科技推出業(yè)界首個(gè)全棧式大數(shù)據(jù)分析解決方案

作者: 時(shí)間:2023-09-26 來源:美通社 收藏

(Synopsys, Inc.,納斯達(dá)克股票代碼:SNPS)近日宣布推出面向芯片開發(fā)全流程的AI驅(qū)動(dòng)型數(shù)據(jù)分析整體解決方案,以不斷強(qiáng)化其?EDA平臺(tái)。這是全球半導(dǎo)體行業(yè)首個(gè)可提供AI驅(qū)動(dòng)型洞察和優(yōu)化分析的解決方案,能夠改善架構(gòu)探索、設(shè)計(jì)、制造和測(cè)試流程。該解決方案集成了AI技術(shù)的最新進(jìn)展,可對(duì)大量異構(gòu)、多域數(shù)據(jù)進(jìn)行管理和操作,以加速分析根本原因,從而提高設(shè)計(jì)生產(chǎn)率、制造效率和測(cè)試質(zhì)量。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/202309/451012.htm

AI驅(qū)動(dòng)型EDA數(shù)據(jù)分析(Data Analytics,.da)解決方案包括:

  • Design.da對(duì)來自設(shè)計(jì)執(zhí)行的數(shù)據(jù)進(jìn)行深度分析,為開發(fā)者提供全面的可視化和可操作的設(shè)計(jì)分析,從而挖掘功耗、性能和面積(PPA)優(yōu)化的機(jī)會(huì)。

  • 新思科技Fab.da用于存儲(chǔ)和分析大量來自晶圓廠設(shè)備流程的控制數(shù)據(jù),從而提高操作效率并極大限度地提高產(chǎn)品質(zhì)量和制造良率。

  • 新思科技Silicon.da收集來自測(cè)試設(shè)備的千兆字節(jié)級(jí)芯片監(jiān)控、診斷和生產(chǎn)測(cè)試數(shù)據(jù),以改進(jìn)質(zhì)量、良率和吞吐量等芯片生產(chǎn)指標(biāo)以及功耗和性能等芯片運(yùn)行指標(biāo)。

新思科技EDA事業(yè)部戰(zhàn)略和產(chǎn)品管理副總裁Sanjay Bali表示:"隨著芯片復(fù)雜度持續(xù)提升和市場(chǎng)窗口期不斷縮小,半導(dǎo)體行業(yè)越來越多地采用AI技術(shù)來提高芯片結(jié)果質(zhì)量(QoR)、加快驗(yàn)證和測(cè)試速度、提高制造良率,并提升整個(gè)集成電路設(shè)計(jì)流程中多個(gè)領(lǐng)域的生產(chǎn)率。通過 EDA解決方案中的全新數(shù)據(jù)分析功能,我們的合作伙伴可以整合并利用來自架構(gòu)探索、設(shè)計(jì)、測(cè)試到制造的EDA堆棧的每一層數(shù)據(jù),從而提高芯片PPA、良率和工程生產(chǎn)率。"

釋放海量數(shù)據(jù)的可能性 

EDA、測(cè)試和IC制造工具會(huì)產(chǎn)生大量的異構(gòu)設(shè)計(jì)數(shù)據(jù),如時(shí)序路徑、功率特性、裸片合格/不合格報(bào)告、工藝控制或驗(yàn)證覆蓋指標(biāo),而如何利用這些數(shù)據(jù)對(duì)于提高生產(chǎn)率、PPA和參數(shù)/制造良率至關(guān)重要。該解決方案是對(duì)Synopsys.aiEDA平臺(tái)的增強(qiáng)和擴(kuò)展,可通過AI驅(qū)動(dòng)的流程和方法實(shí)現(xiàn)多域數(shù)據(jù)整合管理,從而顯著提高生產(chǎn)率并改善QoR。憑借更深入的設(shè)計(jì)分析,開發(fā)者可以實(shí)現(xiàn)更有效的調(diào)試和優(yōu)化工作流程。此外,芯片制造商可以在整個(gè)掩模、制造和測(cè)試過程中快速定位和糾正問題區(qū)域,以免影響產(chǎn)品質(zhì)量和產(chǎn)量。芯片企業(yè)還可以在其數(shù)據(jù)集上使用生成式AI技術(shù),從而實(shí)現(xiàn)知識(shí)助手、預(yù)防性和規(guī)范性假設(shè)探索以及引導(dǎo)性問題解決方案等全新用例。 

多家全球技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者都對(duì)新思科技EDA數(shù)據(jù)分析解決方案表示高度認(rèn)可。

Marvell高級(jí)首席工程師Greg Bazan博士表示:"芯片制造和測(cè)試過程中會(huì)產(chǎn)生海量數(shù)據(jù),因此大數(shù)據(jù)工具對(duì)于分析這些數(shù)據(jù)集并從中提取有效結(jié)論至關(guān)重要。新思科技芯片數(shù)據(jù)分析解決方案對(duì)于提高我們制造工藝的效率和質(zhì)量非常關(guān)鍵。我們十分期待采用新思科技新一代數(shù)據(jù)分析工具來進(jìn)一步改善我們的關(guān)鍵績(jī)效指標(biāo)(KPI),并降低下一代產(chǎn)品的制造和測(cè)試成本。"

SK海力士副總裁Youin Choung表示:"先進(jìn)的IC晶圓廠非常復(fù)雜,需要強(qiáng)大的軟件解決方案來實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)目標(biāo)。我們相信新思科技將成為該軟件解決方案領(lǐng)域的核心驅(qū)動(dòng)者。"



評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉