高速電路設(shè)計(jì)中時(shí)序計(jì)算方法與應(yīng)用實(shí)例
1滿足接收端芯片的建立,保持時(shí)間的必要性
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/273937.htm在高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)中,由于趨膚效應(yīng)、臨近干擾、電流高速變化等因素,設(shè)計(jì)者不能單純地從數(shù)字電路的角度來(lái)審查自己的產(chǎn)品,而要把信號(hào)看作不穩(wěn)定的模擬信號(hào)。采用頻譜分析儀對(duì)信號(hào)分析,可以發(fā)現(xiàn),信號(hào)的高頻譜線主要來(lái)自于信號(hào)的變化沿而不是信號(hào)頻率。例如一個(gè)1MHz的信號(hào),雖然時(shí)鐘周期為1微秒,但是如果其變化沿上升或下降時(shí)間為納秒級(jí),則在頻譜儀上可以觀察到頻率高達(dá)數(shù)百兆赫茲的譜線。因此,電路設(shè)計(jì)者應(yīng)該更加關(guān)注信號(hào)的邊沿,因?yàn)檫呇赝簿褪切盘?hào)頻譜最高、最容易受到干擾的地方。
在同步設(shè)計(jì)中,數(shù)據(jù)的讀取需要基于時(shí)鐘采樣,根據(jù)以上分析,為了得到穩(wěn)定的數(shù)據(jù),時(shí)鐘的采樣點(diǎn)應(yīng)該遠(yuǎn)離數(shù)據(jù)的變化沿。
圖1是利用時(shí)鐘CLK的上升沿采樣數(shù)據(jù)DATA的示例。DATA發(fā)生變化后,需要等待至少Setup時(shí)間(建立時(shí)間)才能被采樣,而采樣之后,至少Hold時(shí)間(保持時(shí)間)之內(nèi)DATA不能發(fā)生變化。因此可以看出,器件的建立時(shí)間和保持時(shí)間的要求,正是為了保證時(shí)鐘的采樣點(diǎn)遠(yuǎn)離數(shù)據(jù)的變化沿。如果在芯片的輸入端不能滿足這些要求,那么芯片內(nèi)部的邏輯將處于非穩(wěn)態(tài),功能出現(xiàn)異常。
圖1 信號(hào)采樣示例
圖2 源同步系統(tǒng)拓?fù)鋱D
2時(shí)序分析中的關(guān)鍵參數(shù)
為了進(jìn)行時(shí)序分析,需要從datasheet(芯片手冊(cè))中提取以下關(guān)鍵參數(shù):
●Freq:時(shí)鐘頻率,該參數(shù)取決于對(duì)芯片工作速率的要求。
●Tcycle:時(shí)鐘周期,根據(jù)時(shí)鐘頻率Freq的倒數(shù)求得。Tcycle=1/Freq.
●Tco:時(shí)鐘到數(shù)據(jù)輸出的延時(shí)。上文提到,輸入數(shù)據(jù)需要采用時(shí)鐘采樣,而輸出數(shù)據(jù)同樣也需要參考時(shí)鐘,不過(guò)一般而言,相比時(shí)鐘,輸出的數(shù)據(jù)需要在芯片內(nèi)延遲一段時(shí)間,這個(gè)時(shí)間就稱為Tco.該參數(shù)取決于芯片制造工藝。
●Tsetup(min):最小輸入建立時(shí)間要求。
●Thold(min):最小輸入保持時(shí)間要求。
除以上五個(gè)參數(shù)外,時(shí)序分析中還需要如下經(jīng)驗(yàn)參數(shù):
●Vsig:信號(hào)傳輸速度。信號(hào)在電路上傳輸,傳輸速度約為6英寸/納秒。
時(shí)序計(jì)算的目標(biāo)是得到以下兩個(gè)參數(shù)之間的關(guān)系:
●Tflight-data:數(shù)據(jù)信號(hào)在電路板上的走線延時(shí)。
●Tflight-clk:時(shí)鐘信號(hào)在電路板上的走線延時(shí)。
以上參數(shù)是進(jìn)行時(shí)序分析的關(guān)鍵參數(shù),對(duì)于普通的時(shí)序分析已經(jīng)足夠。
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評(píng)論