ATE參加SEMICON/China 展會

 

    Nextest 將展示能應對與高容量閃存、邏輯、系統(tǒng)芯片 (SOC) 和圖像傳感器等設(shè)備類型相聯(lián)系的測試挑戰(zhàn)的產(chǎn)品。這些解決方案的設(shè)計能在降低測試成本的同時，提升容量、產(chǎn)量和可靠性。

 

    Nextest 將在 SEMICON/China 展會第2000號展位展示下列測試解決方案：

 

    Magnum iCP-EV

 

    該128引腳的 Magnum iCP-EV “個人”測試系統(tǒng)是同類首創(chuàng)型產(chǎn)品，并且是首次進行展示。針對 CMOS 圖像傳感器市場而設(shè)計的 Magnum iCP-EV 為 CMOS 圖像傳感器制造商提供了一種可選的用于程序開發(fā)及調(diào)試的低成本設(shè)計解決方案。由于該測試器體積小，在把設(shè)備送至 Magnum iCP 進行大規(guī)模生產(chǎn)測試之前，在辦公室環(huán)境下就可進行必要的設(shè)計工作。這種新穎的方法可以實現(xiàn)向并行測試 CMOS 圖像傳感器設(shè)備的平穩(wěn)過渡，并且這種方法的成本效益與使用昂貴的大型測試設(shè)備進行必須的工程設(shè)計工作相比要好得多。CMOS 圖像傳感器設(shè)備如今正被用于無數(shù)的消費產(chǎn)品，例如：手機、相機、網(wǎng)絡(luò)攝像頭、個人數(shù)字助理以及監(jiān)控攝像頭等，而在不遠的將來還將有大量新的應用出現(xiàn)。

 

    Magnum SV

 

    同時在 SEMICON/China 展示的還有1280引腳的 Magnum SV 測試系統(tǒng)。針對高成長的閃存、邏輯和系統(tǒng)芯片市場而設(shè)計的 Magnum SV 是高效的生產(chǎn)測試解決方案，能顯著提高產(chǎn)量并縮短測試時間。在與合適的探測器或處理器結(jié)合使用時，Magnum SV 創(chuàng)建的界面解決方案能夠并行測試多達160個設(shè)備，適用于成本敏感型的消費數(shù)字產(chǎn)品市場。憑借 Magnum 靈活的架構(gòu)，各系統(tǒng)能在 Magnum PV 實現(xiàn)最少128引腳的配置，而用 Magnum Grande 實現(xiàn)多達7680引腳和960個點的配置。此外，所有 Magnum 系列采用相同的操作軟件、測試程序、內(nèi)部元件和備件 -- 從而消除了與培訓和備件庫存相關(guān)的額外成本。