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ST公布下一代低功耗45nm CMOS設計平臺

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作者: 時間:2007-06-18 來源:電子產品世界 收藏

  意法半導體公布了該公司的45nm (0.045微米) CMOS設計平臺,在這個平臺上,客戶可以為低功耗的無線和便攜通信應用設備開發(fā)下一代系統(tǒng)芯片(SoC)產品。

  與采用65nm技術的設計相比,ST的低功耗創(chuàng)新工藝結合多個閾值晶體管,將芯片面積縮減一半。同時,新工藝將處理速度提高了20%,在正常工作模式下,泄漏電流降低二分之一,在保持模式下,泄漏電流降低到幾分之一。后一項將給便攜產品的設計人員帶來巨大的好處,因為電池電量的使用時間是便攜產品設計需要考慮的一個重要的因素。

  ST在完成一個高集成度的45nm SoC 演示芯片的設計或流片時使用了這個最先進的45nm低功耗CMOS平臺。這個芯片設計包含一個先進的雙核CPU系統(tǒng)和相關的存儲器分層結構,采用了在45nm工藝節(jié)點上將高性能和低功耗合二為一所需的復雜的低功耗方法。  

  新的低功耗設計平臺充分利用了45nm工藝技術的多功能和模塊化特點,該平臺是在法國格勒諾布爾近郊Crolles的ST研發(fā)中心開出來發(fā)的,并在Crolles2聯(lián)盟的300mm晶圓制造廠接受了產品驗證。

  “提前使用低功耗的45nm CMOS技術對于市場領先的制造廠商開發(fā)新的無線和便攜消費電子產品特別是下一代的3G和4G手持多媒體終端至關重要,” 意法半導體制造和技術研發(fā)執(zhí)行副總裁Laurent Bosson表示,“在ST的低功耗45nm CMOS平臺上開發(fā)的芯片能夠讓應用設計具有極高的性能同時還有很低的功耗?!?/P>

  與其它的準備部署的45nm設計平臺一樣,ST的低功耗45nm工藝含有進行高密度和高性能設計所需的全部先進模塊。這些重要模塊包括:蝕刻最重要圖形層的193nm浸沒式光刻技術、潛溝道隔離及晶體管應力技術、先進的采用毫秒退火方法的結工程、超低K的內部銅層電介材料、準許降低互連線電容的技術。此外,還有兩個單元庫:一個是為高性能優(yōu)化的,另一個是為低功耗優(yōu)化的??傊撈脚_為設計人員提供了豐富的設計選擇。

  通過與Cadence、Mentor Graphics、Synopsys和Magma等主要EDA廠商的研發(fā)部門合作,ST的45nm設計平臺受到業(yè)內主要的CAD工具的全面支持,由于開發(fā)環(huán)境是技術人員熟悉的工業(yè)標準工具,ST的客戶可以立即著手設計先進的系統(tǒng)芯片解決方案。



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