致茂電子提供客戶全系列LED測試解決方案

  　國內量測儀器大廠致茂電子在今年光電周LED展區(qū)，針對當今最熱門的LED產(chǎn)業(yè)推出全系列的制程測試解決方案。由于LED具備輕巧、節(jié)能、環(huán)保、耐用、高亮度等多種優(yōu)異特性下，逐漸在各個產(chǎn)業(yè)的應用上嶄露頭角。以LED的制程來說，從上游的磊晶(EPI)、中游的晶粒(Chip Process)、到下游的封裝(Package)，即可完成一個LED模組，并可多樣化地發(fā)揮在資訊顯示、光源、照明、通訊傳輸、遙控感測等功能應用上，市場規(guī)模相當龐大。

　　致茂電子所開發(fā)的LED測試設備是應用于中游晶片切割前后及晶粒擴張前后，針對晶粒的電性、光學及靜電放電(ESD)測試，并可結合點測機(LED Wafer/Chip Prober)的人性化操作介面，輕松快速地檢測LED晶片及晶粒。針對現(xiàn)在最火熱的背光源(light bar)應用，致茂已推出系列機種，能量測light bar模組之電性與光學特性。除此之外，為滿足客戶不同需求，致茂提供各種客制化的LED電性、光學測試設備，降低制造成本，提高客戶在同業(yè)的競爭力。

　　致茂電子于今年臺北光電周6月11~13日期間，假臺北世貿展館一館完整展出（攤位號碼A211等2個攤位），會中將展示LED一系列測試新產(chǎn)品，有PXI LED測試系統(tǒng)、LED Wafer/Chip點測機….等。展會上將有實機展示，歡迎業(yè)界人士蒞臨指教，相關資訊請參閱本公司網(wǎng)站﹕http://www.chromaate.com或電洽(03)327-9999分機6102戴小姐。