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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 系統(tǒng)級

系統(tǒng)級 文章 進入系統(tǒng)級技術社區(qū)

為IoT設備的能耗操碎心——論智能設備的系統(tǒng)級電源管理

  • 　　Jaya Kathuria Bindra? （Cypress公司 嵌入式應用事業(yè)部與解決方案開發(fā) 應用經(jīng)理）　　Nidhin M S? （Cypress公司 應用工程師）　　摘? 要：探討包含外設和調節(jié)器在內的系統(tǒng)級功耗控制?！　￡P鍵詞：IoT；能耗；系統(tǒng)級；電源管理　　靈活的粒化（granular）電源模式，能以低功耗模式工作且獨立于CPU的專用外設，以及可編程的模擬和數(shù)字邏輯，有助于優(yōu)化Cypress公司的可編程片上系統(tǒng)（PSoC）的功耗。但在系統(tǒng)級還有更多外設連接到PSoC，這些外設不僅會消耗電
  • 關鍵字： 202002  IoT  能耗  系統(tǒng)級  電源管理  

整合系統(tǒng)級和芯片級 恩智浦NXP聯(lián)姻飛思卡爾改變市場格局

  • 從2015年12月7日開始，飛思卡爾半導體品牌正式停止使用，這意味著從今天開始，所有與飛思卡爾相關的大學生智能車項目、汽車電子、消費電子、工業(yè)乃至網(wǎng)
  • 關鍵字： 系統(tǒng)級  芯片級  恩智浦  飛思卡爾  

系統(tǒng)級語言SystemVerilog和SystemC的融合

  • SystemVerilog和SystemC不久前依然被視為相互排斥的兩種環(huán)境，而現(xiàn)在可以相互協(xié)作，并為實現(xiàn)設計和驗證方法提供平滑流暢的系統(tǒng)。
  • 關鍵字： SystemVerilog  SystemC  驗證  系統(tǒng)級  

SystemC與SystemVerilog的比較

  • 就 SystemC 和 SystemVerilog 這兩種語言而言， SystemC 是C++在硬件支持方面的擴展，而 SystemVerilog 則繼承了 Verilog，并對 Verilog 在面向對象和驗證能力方面進行了擴展。
  • 關鍵字： SystemVerilog  面向對象  系統(tǒng)級  

ADI欲以一己之力實現(xiàn)“圍殺”

  • 　　當前，對于產(chǎn)品開發(fā)工程師來說，壓力越來越大，主要在于三方面。第一，要面臨產(chǎn)品設計跨學科的壓力，在實現(xiàn)某些功能時，要求工程師掌握其它學科（如醫(yī)學、生物、汽車等）的專業(yè)知識；第二，產(chǎn)品上市時間的壓力；第三，設計風險管理的壓力，設計開發(fā)完成后需要大量的驗證工作來保證產(chǎn)品能夠正常運行。 　　ADI公司給出了一組數(shù)據(jù)，在中國，ADI信息資源中，參考設計的利用率為69%，明顯高于世界其它國家和地區(qū)，應用筆記和數(shù)據(jù)手冊的利用率分別為45%和58%，明顯低于世界其它國家和地區(qū)。也就是說，為減緩這三大壓力，解決所面臨
  • 關鍵字： ADI  系統(tǒng)級  參考設計  

復雜的移動終端產(chǎn)品系統(tǒng)級電源管理設計方法

LED照明電路和系統(tǒng)級別優(yōu)化分析

  • 半導體廠商也在紛紛涉足LED照明業(yè)務。LED的電源電路需要驅動器IC，很多半導體廠商都推出了多樣化產(chǎn)品。在各廠商競相提高驅動器IC的驅動能力及效率并實現(xiàn)更多功能的形勢下，美國國家半導體(National Semiconductor)不
  • 關鍵字： LED  照明  電路  系統(tǒng)級    

應對百萬門級系統(tǒng)級芯片驗證挑戰(zhàn)的可擴展解決方案

  • 功能驗證是電子設計人員目前面臨的主要挑戰(zhàn)，無論是設計團隊還是驗證團隊，都將超過50%的時間用在糾錯上，因此這一領域的技術進展將對縮短產(chǎn)品上市時間產(chǎn)生重大影響。本文探討基于斷言的技術和改進的糾錯方法，以及為
  • 關鍵字： 門級  方案  系統(tǒng)級  芯片驗證    

解決多總線系統(tǒng)級芯片測試問題的多域方法

  • 多總線IC設計的迅速涌現(xiàn)將使測試過程更為復雜，對于基于多時鐘域和高速總線的復雜IC設計，傳統(tǒng)的ATE方法缺乏必要的多域支持和足夠的性能以確?？焖俚?測試開發(fā)和高效能。本文提出在測試復雜的多域IC過程中，可以使用
  • 關鍵字： 多總線  系統(tǒng)級  方法  芯片測試    

SER的傾向和含意 系統(tǒng)級的含意和重要性

  • 軟誤差率(SER)問題是于上個世紀70年代后期作為一項存儲器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關注的，當時DRAM開始呈現(xiàn)出隨機故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小，引起失調所需的臨界電荷的減少速度要比存儲單元中的電荷聚
  • 關鍵字： SER  系統(tǒng)級    

淺談芯片(IC)及系統(tǒng)級保護功能

  • 對于設計師而言，在新產(chǎn)品發(fā)布到之前，預測其現(xiàn)場可靠性是非常困難的。但一旦發(fā)生未預期的嚴重現(xiàn)場故障，則說明設計師的設計是失敗的。然而，即使沒有發(fā)生任何現(xiàn)場故障，仍需要回答以下問題：設計師是否對產(chǎn)品進行了
  • 關鍵字： IC  芯片  系統(tǒng)級  保護功能    

綜合儀器方法解決棘手的系統(tǒng)級測試

  • 當今的電子器件和產(chǎn)品在以比以往更快的速度發(fā)展，在許多商業(yè)應用中，從設計到生產(chǎn)的生命周期縮短到僅有6個月。另外，設備內含和拓撲正從單一向多功能器件轉化進而涉及整個子系統(tǒng)和系統(tǒng)，并常常作為單一方案(例如智能
  • 關鍵字： 儀器  方法  測試  系統(tǒng)級    

適合中國市場的英飛凌車身電子系統(tǒng)級解決方案

  • 隨著汽車市場的激烈競爭，人們對汽車駕乘舒適性和個性化的不斷追求，以往許多只有高級車輛才具有的功能，目前正在加速進入中檔乃至低端車輛。而這些功能中絕大部分都與車身電子相關聯(lián)，包括自動靈巧的車門區(qū)域控制、
  • 關鍵字： 中國市場  英飛凌  車身電子  系統(tǒng)級    

用于系統(tǒng)級芯片集成的各種處理技術方案評估

  • 帶有多個處理單元的SoC器件目前是產(chǎn)品設計鏈上的重要一環(huán)。本文綜合各種因素評估了不同處理單元的優(yōu)缺點，并通過衛(wèi)星無線電接收器的設計實例幫助開發(fā)人員理解SoC所涉及處理任務之間的復雜平衡并有效掌握系統(tǒng)功能的劃
  • 關鍵字： 系統(tǒng)級  處理技術  方案  芯片集成    

汽車電子的系統(tǒng)級電磁兼容性分析

  • 0引言隨著電子技術的不斷發(fā)展，新技術越來越多的應用到汽車領域，因此各個電子裝置和電子控制系統(tǒng)必...
  • 關鍵字： 汽車電子  系統(tǒng)級  電磁兼容性  
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系統(tǒng)級介紹

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