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Si5350 最具頻率彈性可在線編程CMOS時(shí)鐘發(fā)生器
- Silicon Laboratories (芯科實(shí)驗(yàn)室有限公司, Nasdaq: SLAB) 日前發(fā)表業(yè)界最具頻率彈性可在線編程的CMOS時(shí)鐘 ...
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利用具有LDO特性的DC/DC轉(zhuǎn)換器滿足下一代移動(dòng)應(yīng)用設(shè)計(jì)需求(下)
- 高頻開關(guān)面臨的挑戰(zhàn) 我們前面講過,與高頻開關(guān)有關(guān)的損耗會(huì)增加。圖4所示為采用2.2uH電感處于傳統(tǒng)的2MHz頻率下的DC/DC轉(zhuǎn)換器 target=_blank>DC/DC轉(zhuǎn)換器的損耗,以及采用0.47uH電感頻率為8MHz時(shí)的損耗。 可
- 關(guān)鍵字: 移動(dòng) 下一代 應(yīng)用 設(shè)計(jì) 需求 滿足 轉(zhuǎn)換器 具有 LDO 特性
利用具有LDO特性的DC/DC轉(zhuǎn)換器滿足下一代移動(dòng)應(yīng)用設(shè)計(jì)需求(上)
- 今天的手機(jī)不斷向小型化和薄型化發(fā)展。這點(diǎn)毫不奇怪,技術(shù)尺寸方面的多數(shù)進(jìn)展是一個(gè)關(guān)鍵問題,可以決定產(chǎn)品開發(fā)的命運(yùn)。由于移動(dòng)器件的尺寸不斷變小,元件尺寸和元件數(shù)量也必須如此。隨著每個(gè)元件周圍的空間縮小,元
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恒流LDO型白光LED驅(qū)動(dòng)芯片的設(shè)計(jì)研究
- 目前應(yīng)用的半導(dǎo)體光源的驅(qū)動(dòng)方式有恒壓驅(qū)動(dòng)和恒流驅(qū)動(dòng)兩種。由于半導(dǎo)體光源的正向壓降受工藝離散性的影...
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基于CMOS探測(cè)器的射線檢測(cè)設(shè)計(jì)應(yīng)用
- 概述:以CMOS探測(cè)器為記錄介質(zhì)的數(shù)字化射線檢測(cè)技術(shù),檢測(cè)精度高、溫度適應(yīng)性好、結(jié)構(gòu)適應(yīng)性強(qiáng)。CMOS射線掃描探測(cè)器探測(cè)單元排成線陣列,需要在檢測(cè)時(shí)進(jìn)行相對(duì)掃描運(yùn)動(dòng),逐線采集并拼成完整的透照投影圖像。介紹了檢測(cè)工裝設(shè)計(jì),完成了探測(cè)器的固定、位置調(diào)節(jié)及實(shí)現(xiàn)與檢測(cè)工件的相對(duì)運(yùn)動(dòng)。介紹了檢測(cè)應(yīng)用中的探測(cè)器配置與校準(zhǔn)、透照方式選取、運(yùn)動(dòng)速度控制、檢測(cè)參數(shù)優(yōu)化、缺陷定量分析和圖像存檔管理等。應(yīng)用結(jié)果表明,經(jīng)過工藝優(yōu)化,CMOS探測(cè)器能夠?qū)崿F(xiàn)大多數(shù)產(chǎn)品零部件的射線檢測(cè)。最后分析了應(yīng)用中存在的問題及后續(xù)研究方向。
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CMOS圖像通道在超聲診斷儀中的應(yīng)用
- CMOS圖像通道在超聲診斷儀中的應(yīng)用,1 引言 隨著醫(yī)療診斷儀器小型化、便攜化的進(jìn)程,高性能32位微處理器正在越來越多地應(yīng)用于各類小型醫(yī)療影像設(shè)備中,但是如何利用這些微處理器傳送和處理實(shí)時(shí)圖像,卻是一個(gè)丞待解決的問題。從ARM 7系列開始,ARM處理器
- 關(guān)鍵字: CMOS 圖像 超聲診斷儀 中的應(yīng)用
用基于CMOS技術(shù)的接收器芯片設(shè)計(jì)高性價(jià)比的汽車收
- 高增長(zhǎng)的經(jīng)濟(jì)體如巴西、印度尼西亞、印度和中國(guó)已出現(xiàn)新興中產(chǎn)階級(jí)和快速增長(zhǎng)的汽車市場(chǎng)。這些市場(chǎng)要求汽車零售價(jià)相對(duì)較低,因此給汽車組件帶來很大的成本壓力。此外,在發(fā)達(dá)經(jīng)濟(jì)體如美國(guó)、歐洲國(guó)家和日本的汽車市場(chǎng)
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