安捷倫推出適用于電子測(cè)量的多功能臺(tái)式邊界掃描分析儀

　　安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布推出 Agilent x1149 邊界掃描分析儀。

　　邊界掃描已經(jīng)成為工程師們?cè)趹?yīng)對(duì)日益增加的測(cè)試接入挑戰(zhàn)時(shí)必不可少的技術(shù)。x1149 邊界掃描分析儀是一款功能廣泛、使用方便的電路板測(cè)試工具，能夠幫助用戶進(jìn)行電路板設(shè)計(jì)和驗(yàn)證，以及在生產(chǎn)過(guò)程中重復(fù)進(jìn)行相同的 x1149 測(cè)試。

　　該分析儀提供了直觀的操作界面，您只需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)便可在屏幕上輕松瀏覽所有信息。關(guān)鍵特性包括：

• 覆蓋擴(kuò)展技術(shù)和硅釘能力。
• 直接使用STAPL標(biāo)準(zhǔn)文件用于CPLD/FPGA的燒錄。
• 掃描路徑鏈接器(Scan Path Linker)可將多條鏈路連接到一條鏈路上。
• 完全兼容的器件支持 IEEE 1149.1 和 IEEE 1149.6 標(biāo)準(zhǔn)。

　　安捷倫測(cè)量系統(tǒng)事業(yè)部總經(jīng)理 Boon Khim Tan 表示：“在 iNEMI 調(diào)查中，90% 的受訪者認(rèn)為內(nèi)置自測(cè)(BIST)功能是產(chǎn)品測(cè)試的關(guān)鍵;而 60%的電路板設(shè)計(jì)人員表示自己需要使用 BIST 對(duì)電路板的性能進(jìn)行驗(yàn)證。BIST 的接入方法主要是通過(guò)邊界掃描進(jìn)行接入。”

　　“x1149 邊界掃描分析儀是安捷倫為滿足業(yè)界更多 BIST 需求而特別設(shè)計(jì)的。我們持續(xù)致力于為客戶提供最佳的投資回報(bào)，x1149 就是證明。它是一款多功能的儀器，可在從設(shè)計(jì)和驗(yàn)證到批量生產(chǎn)的整個(gè)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中使用。所有儀器均具有相同的測(cè)試可過(guò)渡移植性、可靠性和穩(wěn)定性，這是安捷倫解決方案的標(biāo)志性優(yōu)勢(shì)。”