高壓斷路器機(jī)械特性測試儀測試解決方案

3.1　過程測量

　　所謂過程測量是相對于狀態(tài)測量而言的，其核心有2個(gè):①對被測參數(shù)作全過程記錄；②所有被測參數(shù)基于同一參考系，可以實(shí)現(xiàn)相關(guān)參數(shù)的互相關(guān)聯(lián)。在過程測量的思維里，放棄了傳統(tǒng)的事件標(biāo)定方法（特征狀態(tài)或特征數(shù)據(jù)），所有被測量基于同一個(gè)參考系（多為時(shí)間參考系），所有事件的處理都基于這個(gè)參考系，并且同等持續(xù)地對待整個(gè)測試中的所有狀態(tài)或數(shù)據(jù)，這即簡化了測試邏輯，也為相關(guān)量之間的互相標(biāo)定創(chuàng)造了可能。用過程測量的思維處理上述三個(gè)問題顯得十分簡單。

　?。?） 在斷路器固有時(shí)間的測試中，由于我們同時(shí)全過程記錄了斷口的狀態(tài)轉(zhuǎn)變和操作繞組電壓的變化曲線，且這兩個(gè)量有統(tǒng)一的時(shí)間坐標(biāo)，因此，很容易精確獲得電路響應(yīng)時(shí)間和斷路器自身的動(dòng)作時(shí)間。

　?。ǎ玻┰谒俣葴y試中，我們能夠精確地把計(jì)時(shí)時(shí)間起點(diǎn)和位移時(shí)刻原點(diǎn)統(tǒng)一在一起，不必象狀態(tài)測試中那樣把計(jì)時(shí)時(shí)間起點(diǎn)定義在操作指令發(fā)出時(shí)刻，更為重要的是可以通過位移時(shí)間曲線切線斜率的方式求出任意時(shí)刻的即時(shí)速度，而不再是平均速度。另外，觸頭的彈跳情況也能在位移—時(shí)間曲線中再現(xiàn)出來。

　　(3) 通過對操作繞組上電壓、電流曲線的全過程記錄及其他參數(shù)的關(guān)聯(lián)記錄，可以明確區(qū)分到底是操作電源問題還是操作機(jī)構(gòu)問題，并且還能對繞組的電氣特性和操作電源的性能作出科學(xué)的評價(jià)。

　　其實(shí)，電氣設(shè)備在激勵(lì)源的激勵(lì)下達(dá)到某個(gè)狀態(tài)的過渡過程中會表現(xiàn)出很多有價(jià)值的信息，這些信息往往比穩(wěn)定的狀態(tài)信息更有價(jià)值，以前限于測試手段、技術(shù)水平的原因，沒有對過渡信息進(jìn)行記錄和利用，隨著技術(shù)的發(fā)展，對過渡信息進(jìn)行記錄已經(jīng)變成可能。

3.2　非接觸方式

　　利用過程測量方式，高壓斷路器機(jī)械特性測試儀不僅可實(shí)現(xiàn)對參數(shù)的科學(xué)精確測試，還可實(shí)現(xiàn)對高壓斷路器機(jī)械特性中位移、速度的非接觸測試。

　　目前，高壓斷路器機(jī)械特性測試儀在位移、速度的測試方面基本都采用接觸方式來獲得高壓斷路器的位移、速度信息，也就是必須將位移傳感器接觸安裝在斷路器的聯(lián)動(dòng)部分，通過接觸斷路器的運(yùn)動(dòng)來感受其運(yùn)動(dòng)信息。由于高壓斷路器的結(jié)構(gòu)和形狀各異，因此該方式在現(xiàn)場的測試中十分困難，甚至不可能實(shí)現(xiàn)。

　　利用光反射偏移原理可實(shí)現(xiàn)對高壓斷路器速度、位移的非接觸測試。光電測量位移、速度原理圖見圖4。

　　 　　 　　 圖4　光電測量位移、速度原理圖