新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 一種基于FPGA的誤碼性能測試方案

一種基于FPGA的誤碼性能測試方案

作者: 時(shí)間:2009-08-10 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

在數(shù)字通信系統(tǒng)的中,通常使用分析儀對其性能進(jìn)行測量。它雖然具有簡單易用、測試內(nèi)容豐富、測試結(jié)果直觀、準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn),但是,價(jià)格昂貴、不易與某些系統(tǒng)接口適配,通常需要另加外部輔助長線驅(qū)動(dòng)電路;此外,誤碼分析儀對于突發(fā)通信系統(tǒng)的誤碼存在先天不足。例如,在對TDMA系統(tǒng)上行鏈路誤碼時(shí),只有通過外加接口,對連續(xù)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)壓擴(kuò),才能為被測設(shè)備模擬出突發(fā)形式的數(shù)據(jù),從而完成測試。這給測試工作帶來極大的不便。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/191962.htm

另一方面,現(xiàn)今的通信系統(tǒng)大量采用作為系統(tǒng)的核心控制器件。將物理層上的各協(xié)議層的功能集中在內(nèi)部實(shí)現(xiàn),不僅提高了通信系統(tǒng)的集成,同時(shí)也減少了硬件和軟件設(shè)計(jì)的復(fù)雜度。

基于上述兩方面的考慮,筆者在內(nèi)部實(shí)現(xiàn)了一個(gè)簡易的多功能誤碼分析儀。該誤碼儀主要有三方面優(yōu)點(diǎn):一是可以根據(jù)用戶需要,以連續(xù)或突發(fā)的方式產(chǎn)生若干種不同的隨機(jī)序列或固定序列,并據(jù)此測試數(shù)字通信系統(tǒng)的誤碼性能;二是測試結(jié)果可以誤碼率或者誤碼數(shù)兩種形式,通過外圍器件直觀地顯示出來;三是作為被測系統(tǒng)的一個(gè)嵌入式模塊,便于功能擴(kuò)展及系統(tǒng)調(diào)試。

1 偽隨機(jī)序列(m序列)

許多數(shù)字通信理論的結(jié)論都基于這樣一個(gè)假設(shè):原始的信源信號(hào)為0、1等概并相互獨(dú)立的隨機(jī)數(shù)字序列。同樣,實(shí)際數(shù)字通信系統(tǒng)的設(shè)計(jì),也是基于相同假設(shè)。因此,為使測試結(jié)果盡可能真實(shí)地反映系統(tǒng)的性能,采用偽隨機(jī)序列(m序列)作為測試中傳輸?shù)男盘?hào)。

M序列是一種線反饋移位寄存器序列,其原理方框圖如圖1所示。每級移位寄存器的輸出被反饋系數(shù)Ci加權(quán)(Ci可以取1或0),經(jīng)模2和運(yùn)算再反饋到第一級。令第一級的輸入為ak,就有:

根據(jù)反饋系數(shù)的取值不同,電路可以產(chǎn)生出各種具有不同特性的數(shù)字序列。對于一定的移位寄存器級數(shù)r,存在一些特殊的Ci取值,使得輸出序列的周期達(dá)到最長,即為2r-1。這樣的序列被稱為最長線性反饋移位寄存器序列,即m序列。

2 誤碼儀測試原理

該誤碼儀由發(fā)端模塊和收端模塊兩部分組成。發(fā)端模塊產(chǎn)生連續(xù)或者突發(fā)的比特流,作為通信系統(tǒng)的信源數(shù)據(jù);收端模塊接收通信系統(tǒng)輸出的比特流,并將其與本地產(chǎn)生的、與發(fā)端形式相同的比特流進(jìn)行比較,從而完成誤碼測試。從邏輯上看,誤碼儀的工作過程大致可以分成以下幾個(gè)步驟:

(1)發(fā)端模塊產(chǎn)生原始數(shù)據(jù),并使其通過被測通信系統(tǒng)構(gòu)成的信道;

(2)收端模塊產(chǎn)生與發(fā)端相同碼型、相同相位的數(shù)據(jù)流;

(3)將收到的數(shù)據(jù)流與收端產(chǎn)生的本地?cái)?shù)據(jù)流逐比特地比較,并進(jìn)行誤碼統(tǒng)計(jì);

(4)根據(jù)誤碼統(tǒng)計(jì)結(jié)果,計(jì)算出相應(yīng)的誤碼率,并輸出誤碼指示。

誤碼儀收端模塊所面臨的最主要問題是如何準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)本地產(chǎn)生的m序列與收到的數(shù)據(jù)流同步,即比特對齊,這是整個(gè)誤碼儀正常工作的前提。為了適應(yīng)各種不同類型的通信系統(tǒng),根據(jù)m序列的性質(zhì),采用隨動(dòng)同步的方法解決這個(gè)問題。


上一頁 1 2 3 下一頁

關(guān)鍵詞: FPGA 誤碼 方案 性能測試

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉