SRAM型FPGA單粒子效應(yīng)試驗研究

針對軍品級SRAM型FPGA的單粒子效應(yīng)特性,文中采用重離子加速設(shè)備,對Xilinx公司Virtex-II系列可重復(fù)編程FPGA中一百萬門的XQ2V1000進行輻射試驗。試驗中,被測FPGA單粒子翻轉(zhuǎn)采用了靜態(tài)與動態(tài)兩種測試方式。并且通過單粒子功能中斷的測試,研究了基于重配置的單粒子效應(yīng)減緩方法。試驗發(fā)現(xiàn)被測FPGA對單粒子翻轉(zhuǎn)與功能中斷都較為敏感,但是在注入粒子LET值達(dá)到42MeV.cm2/mg時仍然對單粒子鎖定免疫。本文對翻轉(zhuǎn)敏感度、測試方法與減緩技術(shù)進行了討論,試驗結(jié)果說明SRAM型FPGA對單粒子效應(yīng)比較敏感,利用重配置技術(shù)的減緩方法能夠有效降低敏感度,實現(xiàn)空間應(yīng)用。

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