安捷倫推出用于測試850nm多模電－光元器件的光波元器件分析儀

安捷倫科技公司日前展示了旗下最新型光波元器件分析儀（LCA）――業(yè)界首款用于測試850 nm目標波長的元器件的分析儀。Agilent N4376B LCA為最好地表征主要光元器件的頻率響應樹立了新標準。它專為測試高速電信網(wǎng)絡和計算機網(wǎng)絡中的10 Gb以太網(wǎng)和光纖通道元器件而設計，具有業(yè)界領(lǐng)先的多功能性、測量速度和可靠性。

這款LCA可以降低測試成本，加快開發(fā)速度，解決目前在LAN/SAN、高速芯片互連和光學背板等方面的挑戰(zhàn)。

新型Agilent N4376B LCA可以降低測量的不確定性，并且測量結(jié)果遵循國際標準（安捷倫對此予以保證）。因此使用它，生產(chǎn)、支持和研發(fā)工程師能夠提高產(chǎn)品的產(chǎn)量和生產(chǎn)能力。在多模條件下對850 nm目標波長的多模元器件進行測試，可以優(yōu)化短距離元器件的設計――因為不需要通過其他波長的測量結(jié)果來推斷850 nm目標波長的測量結(jié)果，所以消除了額外的測量不確定性。

這款光元器件分析儀擁有在850nm波長處完善的多模發(fā)射條件和高達20 GHz的調(diào)制速率的標準光/電轉(zhuǎn)換器，進一步豐富了安捷倫的產(chǎn)品線。它可以分析所有類型（電/光、光/電、光/光）的網(wǎng)絡器件，包括激光驅(qū)動器、放大器、激光器、發(fā)射機、光調(diào)制器、光電二極管和無源光器件等。

它可以在安捷倫業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的網(wǎng)絡分析儀基礎(chǔ)上進行線性發(fā)射和反射表征測量，提供全S參數(shù)分析以及從分析儀一直到探針的校準。

用戶可以從現(xiàn)有的Agilent N4373A LCA或高性能網(wǎng)絡分析儀經(jīng)濟高效地升級到此解決方案，從而有效地保護投資。

安捷倫副總裁兼光網(wǎng)絡測試部總經(jīng)理Alois Hauk稱：“Agilent N4376B LCA是一款完整的測試解決方案，具有史無前例的850 nm測量能力，可幫助用戶更快、成本更低地擴建寬帶基礎(chǔ)設施。作為市場上第一款、也是絕無僅有的一款測試解決方案，新型光波元器件分析儀將幫助高性能網(wǎng)絡器件制造商集中力量開發(fā)高速、創(chuàng)新的產(chǎn)品，提高生產(chǎn)效益。”