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集成電路測(cè)試機(jī)的挑戰(zhàn)與趨勢(shì)

　　迎?九?（《電子產(chǎn)品世界》編輯，北京?100036）　　摘?要：介紹了集成電路測(cè)試機(jī)（ATE）面臨的挑戰(zhàn)與解決方案?！　￡P(guān)鍵詞：集成電路；測(cè)試；微調(diào)；trim　　集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE，測(cè)試機(jī)）是檢測(cè)芯片功能和性能的專(zhuān)用設(shè)備，據(jù)SEMI預(yù)測(cè)，2019年中國(guó)測(cè)試機(jī)占據(jù)后道檢測(cè)設(shè)備62.8%的份額 [1] 。ATE測(cè)試的趨勢(shì)是什么？電子產(chǎn)品世界記者訪問(wèn)了泰瑞達(dá)業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷（Natalian Der）女士?！　? 芯片測(cè)試的新挑戰(zhàn)　　當(dāng)今的半導(dǎo)體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性
關(guān)鍵字： 202001 集成電路測(cè)試微調(diào) trim

　　三星今天公布了型號(hào)為470的SSD產(chǎn)品系列，它們分為64/128/256GB三個(gè)版本售價(jià)分別為199、399和699美元。這種SSD采用30nm MLC閃存打造，內(nèi)置雙控制器，支持TRIM，采用3Gbps的SATA接口連接，寫(xiě)入和讀取速度分別為250和220MB/s，隨機(jī)讀取寫(xiě)入性能為21000IOps和21000IOps，不過(guò)64GB版本的性能要稍低，寫(xiě)入速度僅有170MB/s，隨機(jī)寫(xiě)入性能為11000IOps。
關(guān)鍵字：三星 30nm TRIM

德州儀器(TexasInstruments，TI)推出一款具有e-Trim修整技術(shù)和低噪聲的單電源運(yùn)算放大器OPA376。OPA376采用超小型封裝，提供25μA低偏移電壓(最大值)、5.5MHz大頻寬、7.5nV/√Hz低噪聲密度和950μA靜態(tài)電流(最大值)。以上這些特性使新組件在各項(xiàng)參數(shù)間取得平衡，滿足濾波、數(shù)據(jù)擷取和單電源處理系統(tǒng)的交流和直流規(guī)格要求，適合傳感器與信號(hào)調(diào)節(jié)、無(wú)線通信、醫(yī)療儀器、掌上型測(cè)試裝置和消費(fèi)音頻產(chǎn)品等應(yīng)用。&nbs
關(guān)鍵字：模擬技術(shù) 電源技術(shù) TI e-Trim 運(yùn)算放大器模擬IC 電源

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