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集成電路測試機(jī)的挑戰(zhàn)與趨勢(shì)

  • 　　迎?九?（《電子產(chǎn)品世界》編輯，北京?100036）　　摘?要：介紹了集成電路測試機(jī)（ATE）面臨的挑戰(zhàn)與解決方案。　　關(guān)鍵詞：集成電路；測試；微調(diào)；trim　　集成電路自動(dòng)測試設(shè)備（ATE，測試機(jī)）是檢測芯片功能和性能的專用設(shè)備，據(jù)SEMI預(yù)測，2019年中國測試機(jī)占據(jù)后道檢測設(shè)備62.8%的份額 [1] 。ATE測試的趨勢(shì)是什么？電子產(chǎn)品世界記者訪問了泰瑞達(dá)業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷（Natalian Der）女士。　　1 芯片測試的新挑戰(zhàn)　　當(dāng)今的半導(dǎo)體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性
  • 關(guān)鍵字： 202001  集成電路  測試  微調(diào)  trim  

三星推出30納米制程SSD 支持TRIM

  • 　　三星今天公布了型號(hào)為470的SSD產(chǎn)品系列，它們分為64/128/256GB三個(gè)版本售價(jià)分別為199、399和699美元。這種SSD采用30nm MLC閃存打造，內(nèi)置雙控制器，支持TRIM，采用3Gbps的SATA接口連接，寫入和讀取速度分別為250和220MB/s，隨機(jī)讀取寫入性能為21000IOps和21000IOps，不過64GB版本的性能要稍低，寫入速度僅有170MB/s，隨機(jī)寫入性能為11000IOps。
  • 關(guān)鍵字： 三星  30nm  TRIM  

TI新增一款低噪聲e-Trim運(yùn)算放大器OPA376

  • 德州儀器(TexasInstruments，TI)推出一款具有e-Trim修整技術(shù)和低噪聲的單電源運(yùn)算放大器OPA376。OPA376采用超小型封裝，提供25μA低偏移電壓(最大值)、5.5MHz大頻寬、7.5nV/√Hz低噪聲密度和950μA靜態(tài)電流(最大值)。      以上這些特性使新組件在各項(xiàng)參數(shù)間取得平衡，滿足濾波、數(shù)據(jù)擷取和單電源處理系統(tǒng)的交流和直流規(guī)格要求，適合傳感器與信號(hào)調(diào)節(jié)、無線通信、醫(yī)療儀器、掌上型測試裝置和消費(fèi)音頻產(chǎn)品等應(yīng)用。&nbs
  • 關(guān)鍵字： 模擬技術(shù)  電源技術(shù)  TI  e-Trim  運(yùn)算放大器  模擬IC  電源  
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