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Sokudo早餐會上論光刻技術趨勢

作者: 時間:2010-07-20 來源:SEMI 收藏

  在SEMICON West舉行的Sokudo論壇上對于實現(xiàn)的各類技術的進展、挑戰(zhàn)與未來市場前景進行了熱烈的討論。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/111027.htm

  作為193nm技術的接替者,仍是全球EUV(遠紫外光光刻機) 技術的領先供應商。該公司的首臺NXE3100機器將如期發(fā)貨,目前正在作最后的組裝及測試。盡管如此,由于EUV技術中目前能提供的光源功率及掩模缺陷仍是此類技術的主要挑戰(zhàn)。另外,為了達到工業(yè)使用指標急需投入大筆資金。

  Nikon指出它仍繼續(xù)采用兩次圖形曝光方法來延伸193nm高NA(數(shù)值孔徑) 浸入式光刻技術。實際上,具更高出貨量(>200mph) 的1.35NA光刻機己經準備推向市場,它采用傾斜分割(pitch division) 方法與間距淀積已能應用于小于的光刻節(jié)點。

  在論壇上第三種可能技術是無掩模光刻技術。Mapper Lithography是一家位于荷蘭的公司,它們對于該類技術的現(xiàn)狀及進展提出了報告。兩種平臺的設備己經在臺積電與法國的CEA-Leti潔凈廠房中安裝。第二種平臺的開發(fā)工作正與由CEA Leti領導于2009年才推出的IMAGEINE程序共同完成。

  隨著研發(fā)計劃的發(fā)展需要,臺積電與STMicronelectronics是參加IMAGEINE合作計劃的第一及第二個IC制造商。目前Sokudo,TOK,Dow Electronic Materials及JSR都加入到CEA-Leti領導的開發(fā)計劃之中,目的能盡快推出工業(yè)用設備以趕上工業(yè)路線圖的需要。

  在論壇結束時Sokudo提出它的未來涂膠與顯影軌道設備的規(guī)格。通過在兩次圖形曝光,EUV及無掩模光刻的技術合作Sokudo將繼續(xù)推動各種未來的光刻技術發(fā)展來滿足市場需求。

  Laurent Pain 于1996年加入CEA Leti做紅外技術,于1999年被分配到微電子部做193nm及電子束光刻膠工藝。在2000年它加入STMicronelectronics的Crolles廠完成第一個193nm 光刻單元和之后它在ST的Crolles2的制造基地邦助完成電子束直接寫入光刻單元。后于2008又回到Leti并被任命為光刻部經理。

  Didier Louis于1985年加入CEA Leti,先后在微電子研究所擔任各種角色。在2000年它作為腐蝕與去膠研發(fā)實驗室經理,并從2004年1月到2007年12月他被任命為BEOL實驗室副經理。在2008年他被任命為Leti 材料與先進模塊實驗室的副經理及納米電子部的公共關系部經理。在2010年Didier被任命為Leti 的國際通訊部經理。

  有關Sokudo:2006年6月消息,應用材料Applied Materials與日本的迪恩士電子Dainippon Screen攜手合作成立Sokudo公司,將專注于開發(fā)與銷售半導體制造所需要的track(涂膠與顯影等)設備,Applied Materials希望藉此進入新的市場。Sokudo總部設于日本京都,DNS擁有52%的股權,Applied Materials擁有48%。DNS將把該公司現(xiàn)有的track業(yè)務與相關智慧財產權帶入新公司,包括員工、產品;另一方面,Applied Materials也將投入技術、智慧財產權、員工與1億5100萬美元。DNS將承包Sokudo的委外制造業(yè)務。



關鍵詞: ASML 22nm 光刻

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