使用Eye Doctor II工具分析解決測試著色難題

實(shí)踐情況

對反射進(jìn)行補(bǔ)償?shù)墓ぞ?p>

在實(shí)際測試中遇到此類問題，需要對反射進(jìn)行補(bǔ)償，我們可以使用去嵌/仿真工具，但是這些工具通常都需要DUT的S參數(shù)。LeCroy公司高級信號完整性分析軟件包Eye Doctor II提供的VP@RCVR（接收端虛擬探測）功能可以非常方便地利用大家所熟悉的端接模型對這種反射進(jìn)行補(bǔ)償。

該軟件有兩個(gè)模式：“simulation”和“termination”。在“termination”模式下仿真端接點(diǎn)的信號波形以補(bǔ)償基于不理想的接收端接電路帶來的反射。“simulation”模式可用于驗(yàn)證“termination”模式的仿真效果。

基于LeCroy示波器的信號仿真工具JitterSim

為了配置端接模型并進(jìn)行仿真驗(yàn)證，LeCroy的高級串行分析軟件包SDA II提供的JitterSim工具可以非常方便地仿真發(fā)射機(jī)信號。在本例中，JitterSim產(chǎn)生一個(gè)41.2MHz的時(shí)鐘信號，上升時(shí)間為500pS，由圖7中F1(Z1)所示：

驗(yàn)證端接模型：

為了驗(yàn)證補(bǔ)償?shù)亩私幽Ｐ?，我們可以使用VP@rcvr的“Simulation”模式和JitterSim產(chǎn)生的理想的發(fā)射端信號。在這個(gè)應(yīng)用中，F(xiàn)2被設(shè)置為VP@rcvr中圖7所示的“Simulated”模式。

信號為源端端接匹配電路，其負(fù)載電阻為5 Mohm的系統(tǒng)（負(fù)載電阻的阻值可以從芯片的IBIS模型中獲?。琓d設(shè)置為300ps, F2波形是基于端接模型的探測點(diǎn)的仿真結(jié)果波形。如果 F2 和實(shí)際測量到的信號形狀非常一致，表示端接模型適合于補(bǔ)償實(shí)際的端接。在本例中，利用電容 C=5pF、電感L=1nH，F(xiàn)2 和圖 8 中的 M1（Z3）波形非常一致（M1為實(shí)際測量的信號波形）。

補(bǔ)償反射

現(xiàn)在，端接模型可以用于VP@rcvr中的“Termination”模式的反射補(bǔ)償了。將 F2 的源由F1改為 M1。將VP@rcvr的“Simulation”模式改為“Termination”。

此時(shí)，F(xiàn)2 表示的就是虛擬探測的端接點(diǎn)的信號，即在芯片die上的波形，見圖9右下角波形。從波形上看回勾已消失，信號幅度、頻率、占空比和邊沿上升下降時(shí)間均滿足芯片的指標(biāo)要求，我們可以認(rèn)為圖1所示波形的回溝是由于測試著色引入的，經(jīng)虛擬探測得到的芯片die上波形滿足芯片指標(biāo)要求，因此不需要修改設(shè)計(jì)。

結(jié)論

VPrcvr, Virtual Probe Receiver 是LeCroy高級信號完整性分析軟件包 Eye Doctor II中的一種數(shù)學(xué)運(yùn)算功能，能夠補(bǔ)償因?yàn)樘綔y點(diǎn)不合理及芯片寄生參數(shù)造成的反射問題。在分析解決測試著色問題時(shí)可以發(fā)揮很大作用。