基于BIST的IP核測試方案設計 作者： 時間：2012-08-19 來源：網(wǎng)絡 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 本文引用地址：http://butianyuan.cn/article/193355.htm 此模式選擇模塊實現(xiàn)狀態(tài)之間的切換，電路簡單，易于實現(xiàn)。 5 結束語 BIST為嵌入式內(nèi)核的測試提供了一個可解決的方案，其測試效果明顯，故障覆蓋率較高，實現(xiàn)簡單。通過加入測試外殼可以實現(xiàn)對IP核的訪問、隔離、控制，有效地提高了IP核的可測性。但是采用BIST會使電路面積增加額外開銷，必須在IP核的可測性和面積之間進行權衡。 上一頁 1 2 下一頁
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