蓄電池安全檢測技術(shù)的半荷內(nèi)阻測量方法介紹
目前蓄電池安全檢測技術(shù)正面臨這樣的困境:容量放電試驗(yàn)對電池有損,耗時(shí)費(fèi)力且含有令人不安的運(yùn)行風(fēng)險(xiǎn),不可多用;內(nèi)阻測試的判別準(zhǔn)確率欠佳而難以完全信賴。能否尋找到一種能把容量放電法的高準(zhǔn)確率和內(nèi)阻法的方便安全集中于一身的新方法?這就是介于二者之間、又兼具二者之長的“半荷內(nèi)阻法”。本文著重討論半荷內(nèi)阻法的理論依據(jù)和實(shí)用關(guān)鍵。
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/194500.htm1 電池組放電的電壓曲線族
單體電池的放電曲線作為電池最重要的性能指標(biāo)早已為人熟知,放電曲線直觀展現(xiàn)了其電池在一定負(fù)載電流下其端電壓的變化規(guī)律,在忽略細(xì)節(jié)后可表述為:
1)終止電壓前的平穩(wěn)緩慢下降;
2)終止電壓后的快速下跌;
3)終止電壓為上述二線段之間的拐點(diǎn),可以用二折線法粗略表現(xiàn)一條電壓曲線;
4)電壓拐點(diǎn)前的放電時(shí)間和負(fù)載電流的乘積被定義為電池的實(shí)際容量。
電池最終都以串聯(lián)方式成組使用,把串聯(lián)電池組各電池的放電曲線繪制在同一坐標(biāo)中,就能構(gòu)成一族曲線,簡稱“電壓曲線族”。圖1是用二折線法繪制的電壓曲線族。
蓄電池組在運(yùn)行中電壓曲線族不斷變化,其變化規(guī)律為:投運(yùn)初期各電池一致性較好,曲線族分布相對集中,長期運(yùn)行中單體差異逐漸加大,曲線族分布也逐漸向左移動。圖1中電壓拐點(diǎn)的水平分布表征了電池性能的好壞,電壓拐點(diǎn)靠左的電池應(yīng)予關(guān)注或維護(hù),按照規(guī)范,在維護(hù)后電壓拐點(diǎn)仍落后于80%標(biāo)稱拐點(diǎn)的電池應(yīng)予更換。
需要說明的是:以上電壓曲線族的概念只適合理論分析,在維護(hù)實(shí)踐上價(jià)值不大,因?yàn)楸緛碇恍铚?zhǔn)確監(jiān)測到達(dá)電壓拐點(diǎn)的時(shí)間就足以解決一切問題,沒有逐點(diǎn)測繪整族曲線的必要。
2 蓄電池組放電的內(nèi)阻曲線族
等效內(nèi)阻是電池兩極柱上可直接測量的真實(shí)物理量,為討論方便忽略不同內(nèi)阻測量儀的差別,那么以繪制電壓曲線族的同樣方法,也可繪制出蓄電池組放電下的內(nèi)阻曲線族。
放電狀態(tài)下的內(nèi)阻變化規(guī)律不象電壓變化規(guī)律那樣為人熟悉,但經(jīng)大量研究后公認(rèn)有以下特點(diǎn):
1)50%荷電率以上變化很小;
2)50%荷電率以下快速上升;
3)放電終止前,內(nèi)阻值可能上升為初始內(nèi)阻值的2~4倍;
4)50%荷電率為內(nèi)阻曲線的拐點(diǎn),簡稱內(nèi)阻拐點(diǎn),可以用二折線法粗略表現(xiàn)一條內(nèi)阻曲線。
這里所述的“荷電率”,定義為單體實(shí)存電量與本電池真實(shí)容量之比,屬單體變量;另外,定義實(shí)放電量與標(biāo)稱容量之比為“標(biāo)稱放電深度”,屬全組變量。需注意因二者的定義不同,其數(shù)值變化方向相反。這樣在放電過程中,全蓄電池組執(zhí)行了一個(gè)統(tǒng)一的標(biāo)稱放電深度,其數(shù)值越放越大,而執(zhí)行中各單體電池的荷電率卻各不相同,其數(shù)值越放越小。
為了清晰地表達(dá)內(nèi)阻曲線族的變化規(guī)律,特地選擇了一個(gè)有代表意義的蓄電池組模型:模型組由3節(jié)標(biāo)稱容量1000A·h的蓄電池組成,以實(shí)際容量1000、800、600A·h分別代表電池組內(nèi)好、中、壞3種典型類型,其浮充內(nèi)阻分別為0.20mΩ、0.20mΩ、0.27mΩ。請注意1000A·h與800A·h的內(nèi)阻都等于0.20mΩ,這一數(shù)值既肯定獲有實(shí)測數(shù)據(jù)的支持,也在刻意提示滿電下的內(nèi)阻分布確實(shí)存在與“內(nèi)阻大容量小”相關(guān)性規(guī)律不符的例外。再假設(shè)放電終止內(nèi)阻為初始內(nèi)阻的3倍,圖2是按以上參數(shù)用二折線法繪制的內(nèi)阻曲線族。
圖2中每條曲線都以100%真實(shí)荷電率和初始內(nèi)阻值為起點(diǎn),以0%真實(shí)荷電率和初始內(nèi)阻的3倍值為終點(diǎn),而以50%真實(shí)荷電率和初始內(nèi)阻的略大值為拐點(diǎn)。實(shí)測經(jīng)驗(yàn)表明,用二折線法繪制的內(nèi)阻變化曲線與真實(shí)數(shù)據(jù)之間的誤差,不會影響本文的分析結(jié)果。
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