電壓比較器VIO的開環(huán)測(cè)試 作者： 時(shí)間：2005-05-11 來源： 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱比較器)一個(gè)重要的電性能參數(shù)，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時(shí)，兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備大都采用“被測(cè)器件(DUT，Device Under Test)－輔助運(yùn)放”的測(cè)試模式，測(cè)試原理圖見圖1。 在輔助運(yùn)放A的作用下，整個(gè)系統(tǒng)構(gòu)成穩(wěn)定的閉環(huán)網(wǎng)絡(luò)，從而使VD=0，則 VC = -VS1
加入技術(shù)交流群
評(píng)論