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選擇VHDL或者verilog HDL還是System Verilog？

系統(tǒng)級(jí)芯片設(shè)計(jì)語言和驗(yàn)證語言的發(fā)展

FPGA設(shè)計(jì)中關(guān)鍵問題的研究

讓Verilog仿真狀態(tài)機(jī)時(shí)可以顯示狀態(tài)名

基于Nios的DDS高精度信號(hào)源實(shí)現(xiàn)

FPGA系統(tǒng)設(shè)計(jì)實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)分享FPGA系統(tǒng)設(shè)計(jì)實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)分享

FPGA基礎(chǔ)入門

讓生物識(shí)別技術(shù)成為FPGA動(dòng)態(tài)部分重配置功能的“殺手級(jí)”應(yīng)用

  • 　　摘要：我們?cè)诒卷?xiàng)工作中解決的問題是：證實(shí)部分重配置適用于基于生物識(shí)別特性的復(fù)雜個(gè)人識(shí)別算法的開發(fā);運(yùn)用二維設(shè)計(jì)抽象層對(duì)功能進(jìn)行空間和時(shí)間的管理。 　　關(guān)鍵詞：生物識(shí)別;指紋識(shí)別;FPGA;部分重配置 　　自動(dòng)指紋識(shí)別系統(tǒng) 　　指紋識(shí)別是自動(dòng)個(gè)人識(shí)別技術(shù)中使用的最常見、最可靠的技術(shù)。大體上，實(shí)現(xiàn)的技術(shù)將自動(dòng)指紋識(shí)別(AFAS) 劃分為在不同時(shí)間和不同條件下執(zhí)行的兩個(gè)階段：登記和識(shí)別。
  • 關(guān)鍵字： 生物識(shí)別  FPGA  201102  

全景圖像實(shí)時(shí)展開在FPGA上的實(shí)現(xiàn)

  • 　　摘要：全景攝像機(jī)可以使用一個(gè)攝像頭獲取周圍360°的環(huán)境信息，與以往的多攝像機(jī)獲取方法相比大大節(jié)省了硬件資源，并且在還原全景圖時(shí)避免了多畫面拼接產(chǎn)生的“鬼影”問題。但由于反射式全景攝像機(jī)獲取的畫面為極坐標(biāo)視圖，為適應(yīng)人眼觀察習(xí)慣需要對(duì)其進(jìn)行展開。本文在FPGA上實(shí)現(xiàn)了對(duì)反射式全景圖像的實(shí)時(shí)展開，在27MHz系統(tǒng)時(shí)鐘的驅(qū)動(dòng)，生成122萬像素的展開圖像達(dá)到了21.97fps的幀速。 　　
  • 關(guān)鍵字： FPGA  全景攝像機(jī)  

基于FPGA 的嵌入式塊SRAM 的設(shè)計(jì)

  • 摘　要：文章中提出了一種應(yīng)用于FPGA 的嵌入式可配置雙端口的塊存儲(chǔ)器。該存儲(chǔ)器包括與其他電路的布線接口、可配置邏輯、可配置譯碼、高速讀寫電路。在編程狀態(tài)下，可對(duì)所有存儲(chǔ)單元進(jìn)行清零，且編程后為兩端口獨(dú)立
  • 關(guān)鍵字： FPGA  SRAM  嵌入式    

FPGA市場潛力無限

  • 　　伴隨著通信、工業(yè)、軍事、汽車，以及消費(fèi)類電子市場的強(qiáng)勁反彈，幾乎每一家分析機(jī)構(gòu)都毫無例外的預(yù)測FPGA市場2011年以及未來會(huì)有較大的增長。來自IC Insight的數(shù)據(jù)顯示，2010年P(guān)LD的市場增長率超過了45%，達(dá)到48億美元。預(yù)計(jì)到2014年，總市值將進(jìn)一步增加到70億美元，排名整個(gè)半導(dǎo)體行業(yè)增速最快的第三位?！　?/li>
  • 關(guān)鍵字： Xilinx  FPGA  

基于FPGA的多級(jí)小波逆變換實(shí)時(shí)系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 針對(duì)JPEG2000解碼系統(tǒng)中的核心處理模塊――離散小波逆變換(IDWT)，提出了一種基于FPGA的多級(jí)小波逆變換的高速、實(shí)時(shí)的硬件解決方案。仿真驗(yàn)證表明本方案能夠滿足連續(xù)輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)處理的要求，并且所設(shè)計(jì)的系統(tǒng)具有功耗低、成本低等優(yōu)點(diǎn)。
  • 關(guān)鍵字： FPGA  多級(jí)  小波逆變換  實(shí)時(shí)系統(tǒng)    

FPGA 電路動(dòng)態(tài)老化技術(shù)研究

  • 摘　要：近年來，隨著FPGA 電路在軍工和航天領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，用戶對(duì)FPGA 電路的可靠性要求也越來越高。在集成電路的可靠性*估試驗(yàn)中，動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)是最重要的試驗(yàn)之一，F(xiàn)PGA 動(dòng)態(tài)老化技術(shù)的實(shí)現(xiàn)可以提高FPGA 電
  • 關(guān)鍵字： FPGA  電路  動(dòng)態(tài)老化  技術(shù)研究    

面向超低功耗設(shè)計(jì)的微控制器功效優(yōu)化方案

基于嵌入式技術(shù)的靶場破片測速系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 基于嵌入式技術(shù)的靶場破片測速系統(tǒng)設(shè)計(jì),摘要：為了增強(qiáng)靶場破片測速系統(tǒng)的便攜性和實(shí)時(shí)性，提出了一種基于嵌入式技術(shù)的靶場破片測速系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法。系統(tǒng)硬件上采用ARM+FPGA的架構(gòu)，軟件上不僅采用Qt／Embedded設(shè)計(jì)了圖形界面，而且給出了嵌入式設(shè)備上Qt／Em
  • 關(guān)鍵字： ARM  FPGA  
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