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cmos finfet
cmos finfet 文章 進(jìn)入cmos finfet技術(shù)社區(qū)
用基于CMOS技術(shù)的接收器芯片設(shè)計(jì)高性價(jià)比的汽車(chē)收
- 高增長(zhǎng)的經(jīng)濟(jì)體如巴西、印度尼西亞、印度和中國(guó)已出現(xiàn)新興中產(chǎn)階級(jí)和快速增長(zhǎng)的汽車(chē)市場(chǎng)。這些市場(chǎng)要求汽車(chē)零售價(jià)相對(duì)較低,因此給汽車(chē)組件帶來(lái)很大的成本壓力。此外,在發(fā)達(dá)經(jīng)濟(jì)體如美國(guó)、歐洲國(guó)家和日本的汽車(chē)市場(chǎng)
- 關(guān)鍵字: CMOS 接收器 芯片設(shè)計(jì) 汽車(chē)
CL102型CMOS-LED數(shù)碼顯示器電路圖
- CL102型CMOS-LED數(shù)碼顯示器電路圖CMOS-LED數(shù)碼顯示器的,亦叫十進(jìn)制技術(shù)、譯碼驅(qū)動(dòng)顯示器,是一種功能齊全,使用 ...
- 關(guān)鍵字: CL102 CMOS-LED 數(shù)碼顯示器
以碳納米管取代銅 TSV芯片效能更好
- 來(lái)自瑞典歌德堡(Gothenburg)的查默斯理工大學(xué)(Chalmers University of Technology)的研究人員發(fā)現(xiàn),以碳納米管來(lái)填充采用硅穿孔技術(shù)(TSV)連結(jié)的 3D芯片堆棧,效果會(huì)比銅來(lái)得更好。 TSV是將芯片以3D堆棧方式形成一個(gè)系統(tǒng),而非將它們平行排列在電路板上,以提高芯片之間通訊的速度;但遺憾的是,目前用以填充硅晶孔洞的銅,卻會(huì)導(dǎo)致熱膨脹(thermal expansion)的問(wèn)題,因?yàn)殂~遇熱會(huì)比周?chē)墓璨牧吓蛎浉唷? 「碳納米管的許多特性都優(yōu)于銅,包括熱
- 關(guān)鍵字: TSV芯片 CMOS
Crocus與中芯國(guó)際簽署技術(shù)開(kāi)發(fā)和晶圓制造協(xié)議
- Crocus科技,領(lǐng)先的強(qiáng)化磁性半導(dǎo)體技術(shù)開(kāi)發(fā)商,和中芯國(guó)際集成電路制造有限公司(“中芯國(guó)際”),中國(guó)內(nèi)地最大最先進(jìn)的集成電路晶圓代工企業(yè),今天宣布,正式簽署合作技術(shù)開(kāi)發(fā)和晶圓制造協(xié)議。根據(jù)協(xié)議,兩家公司將共同開(kāi)發(fā)針對(duì)汽車(chē)應(yīng)用的高溫磁性邏輯單元(MLU)技術(shù)。中芯國(guó)際將制造和供應(yīng)基于CMOS先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)的晶圓,這些晶圓將在Crocus納米電子(CNE)的先進(jìn)磁性生產(chǎn)設(shè)備上做進(jìn)一步加工。
- 關(guān)鍵字: 中芯國(guó)際 半導(dǎo)體 CMOS
場(chǎng)效應(yīng)管和CMOS集成電路焊接技巧
- 焊接絕緣柵(或雙柵)場(chǎng)效應(yīng)管以及CMOS集成塊時(shí),因其輸入阻抗很高、極間電容小,少量的靜電荷即會(huì)感應(yīng)靜電高壓,導(dǎo)致器件擊穿損壞。筆者通過(guò)長(zhǎng)期實(shí)踐摸索出下述焊接方法,取得令人滿意的效果。1.焊絕緣柵場(chǎng)效應(yīng)管。
- 關(guān)鍵字: CMOS 場(chǎng)效應(yīng)管 集成電路 焊接
主CMOS為鎂光合作產(chǎn)品 尼康V1全面拆解
- 半導(dǎo)體行業(yè)網(wǎng)站Chipworks于近日對(duì)尼康新出品的微單相機(jī)V1做了非常詳細(xì)而且徹底的拆解,在這次拆解過(guò)程中我們也發(fā)現(xiàn)了不少秘密,首當(dāng)其沖的就是主CMOS上發(fā)現(xiàn)了Aptina的痕跡。Aptina是美國(guó)半導(dǎo)體企業(yè)鎂光旗下的感光元件生產(chǎn)廠商,也推出過(guò)APS-C規(guī)格的16M像素CMOS。這也是首次明確發(fā)現(xiàn)尼康與Aptina合作,還是讓我們先來(lái)看看圖片吧!
- 關(guān)鍵字: 尼康 V1 CMOS
CMOS電路IDDQ測(cè)試電路設(shè)計(jì)
- 摘要:針對(duì)CMOS集成電路的故障檢測(cè),提出了一種簡(jiǎn)單的IDDQ靜態(tài)電流測(cè)試方法,并對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行了設(shè)計(jì)。所設(shè)計(jì)的IDDQ電流測(cè)試電路對(duì)CMOS被測(cè)電路進(jìn)行檢測(cè),通過(guò)觀察測(cè)試電路輸出的高低電平可知被測(cè)電路是否存在物理缺
- 關(guān)鍵字: 電路設(shè)計(jì) 測(cè)試 IDDQ 電路 CMOS
cmos finfet介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)cmos finfet的理解,并與今后在此搜索cmos finfet的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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