自動駕駛讓整車廠和芯片廠商摩擦升級？

　　隨著更先進(jìn)的電子組件集成到汽車中，汽車制造商和芯片制造商視角和需求的不同導(dǎo)致兩者出現(xiàn)摩擦和爭論。

　　近年來，越來越多的電子產(chǎn)品集成到自動駕駛等級越來越高的汽車中，但是它的進(jìn)展并不像各大廠商宣傳的那么順利。事實上，電子和汽車之間的一些差異可能需要數(shù)年的時間才能磨合和統(tǒng)一。

　　業(yè)界向完全自主駕駛推進(jìn)的步伐依然如故，但是汽車制造商和芯片制造商接近終極目標(biāo)的路徑卻有著顯著的不同。汽車制造商及其1級和2級供應(yīng)商要求進(jìn)行硬數(shù)據(jù)檢查、物理檢查和測試。而領(lǐng)先的芯片公司和晶圓廠卻認(rèn)為只進(jìn)行模擬和統(tǒng)計分析就足夠了。這兩種觀點的差異主要體現(xiàn)在如何證明和預(yù)測電子產(chǎn)品的的可靠性、導(dǎo)致功能降級和故障的老化及其它原因，以及對汽車中使用的IP和各種電子元件進(jìn)行認(rèn)證需要滿足哪些條件。

　　這些問題包括：

　　汽車制造商希望獲得和惡劣駕駛條件下的性能以及這些組件的長期可靠性相關(guān)的一些實際數(shù)據(jù)，但在許多情況下，電子元件本身并沒有這種真實世界的數(shù)據(jù)，因為自主駕駛完全是一個新課題。而且即便有一些數(shù)據(jù)，它仍然是不完整的，或者置于芯片制造商和代工廠的嚴(yán)密保護(hù)之下。

　　如果輔助駕駛和自動駕駛汽車出現(xiàn)故障，汽車制造商將面臨巨大的責(zé)任，隨著自主駕駛等級的提高，這種責(zé)任風(fēng)險也會相應(yīng)增加。振動試驗、溫度交變試驗可以模擬電子器件在機(jī)械或熱應(yīng)力下的工作方式。但是汽車公司對產(chǎn)品的信念應(yīng)該選擇新的判斷標(biāo)準(zhǔn)，多年來，汽車公司一直依賴于物理觀察和記錄機(jī)械故障，這顯然不能適用于電子產(chǎn)品。

　　今天，很多涉足汽車業(yè)務(wù)的電子公司幾乎在汽車可靠性要求上沒什么經(jīng)驗，反之，許多汽車公司對先進(jìn)工藝半導(dǎo)體產(chǎn)品也沒多少概念。畢竟，用于汽車應(yīng)用的180nm芯片與7nm AI芯片的差別很大。

　　現(xiàn)在，雖然可以使用現(xiàn)有的半導(dǎo)體工具和設(shè)備解決防止故障的問題，但汽車制造商還希望能夠獲得能夠預(yù)測故障的數(shù)據(jù)。今天的芯片特別是在AI系統(tǒng)中，完全是黑盒子。

　　福特汽車公司高級可靠性工程師Keith Hodgson說：“福特一直在使用可靠性物理分析，但是當(dāng)產(chǎn)品老化到接近其壽命的80%時，我們并不能提前得到提醒。就是說，你還沒有失效，但是正處于失效的邊緣?！?/p>

　　這種數(shù)據(jù)對許多行業(yè)板塊都很有價值，因為它允許所有類型的系統(tǒng)供應(yīng)商平衡風(fēng)險和成本。但是，它在安全關(guān)鍵市場尤為重要，因為風(fēng)險可能會導(dǎo)致嚴(yán)重的傷害，所以需要在各種各樣的部件上進(jìn)行預(yù)測性維護(hù)。

　　“通常你需要五到六年時間就能知道芯片是否存在問題，”Dfr Solutions技術(shù)委員會高級成員Jim McLeish說。 “但是我們在5nm或者7nm上沒有什么經(jīng)驗，我們不知道變化會如何影響可靠性。SAE制定了安全失效標(biāo)準(zhǔn)，提供了計算故障率的公式。我們正在努力適應(yīng)SAE標(biāo)準(zhǔn)(J3168)，但是我們需要一些數(shù)據(jù)來運(yùn)行模型并找出變化曲線?！?/p>

　　這些數(shù)據(jù)包括芯片尺寸、厚度、模具材料、Z軸翹曲、封裝內(nèi)的芯片偏移、焊球的直徑和高度等，大多數(shù)芯片制造商都不會向汽車行業(yè)提供這些數(shù)據(jù)。

　　“汽車制造商和芯片制造商看待可靠性有著不同的視角，”Arm物理設(shè)計事業(yè)部營銷副總裁Kelvin Low說。 “我們需要在芯片和IP方面接受更多的教育，汽車OEM也需要弄清楚芯片和IP領(lǐng)域正在發(fā)生的事情。供應(yīng)鏈中的每個人都會受到影響。 目前，代工廠并不會分享所有器件的代工數(shù)據(jù)，你在最終產(chǎn)品上只能進(jìn)行少量的仿真。結(jié)果，芯片制造商的的利潤率更高了，因為他們實際上不需要處理也看不到那么多數(shù)據(jù)?！?/p>

　　設(shè)計和制造的轉(zhuǎn)變

　　領(lǐng)先的芯片廠商通常會將數(shù)據(jù)開放給代工廠和EDA供應(yīng)商，以便能夠以足夠高的良率制造出所設(shè)計的產(chǎn)品。自FinFET問世以來，三星、格羅方德、臺積電等代工廠一直都在提供有關(guān)工藝變化和其它影響的數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)會影響其頂級客戶、EDA廠商和IP公司的產(chǎn)品可靠性。不過，為汽車應(yīng)用開發(fā)7nm AI芯片還有一系列新的問題。

　　應(yīng)用材料公司蝕刻產(chǎn)品戰(zhàn)略副總裁Uday Mitra說：“每個節(jié)點的問題都在累加，增加了工藝升級過程中出錯的可能性。現(xiàn)在的工藝升級不再是一個簡單的尺寸縮小了。隨著工藝節(jié)點的升級，EPE(邊緣放置誤差)容差變小，光刻對準(zhǔn)誤差和工藝變化誤差也在增加。目前最大允許的EPE是四分之一節(jié)距，間距更小，從而變得更糟。除非增加間距，否則即使重新流片也無法解決問題?！?/p>

　　汽車行業(yè)又在這些問題之上增加了嚴(yán)格的認(rèn)證和可靠性標(biāo)準(zhǔn)。今天并沒有用于汽車的7nm AI芯片，因此芯片廠商還沒有提供這些數(shù)據(jù)。制造后會出現(xiàn)什么樣的問題現(xiàn)在也無法預(yù)料。

　　“導(dǎo)致汽車IC可靠性故障的潛在缺陷和隨機(jī)缺陷直接相關(guān)，”KLA-Tencor高級主管Rob Cappel表示。 “如果使用適當(dāng)?shù)臋z查工具、采樣策略和方法來發(fā)現(xiàn)和減少隨機(jī)缺陷，那么，晶圓廠捕獲這些可靠性問題的概率要高得多?！?/p>

　　這也是由汽車集成先進(jìn)電子技術(shù)而推動的一個重大轉(zhuǎn)變。在汽車中，這些電子器件需要在沒有任何故障的情況下使用長達(dá)18年，因此電路監(jiān)測是必不可少的。當(dāng)然，時間計算公式還要取決于無人駕駛出租車的行駛里程，不過，這些無人駕駛汽車在失效前需要一種更換零件或模塊的方法。

　　“汽車制造商希望親眼看到可以證實可靠性的證據(jù)，”Moortec首席技術(shù)官Oliver King說?！邦A(yù)測分析和模擬當(dāng)然也很棒，但是汽車廠商還是希望眼見為實。我們真的知道FinFET是怎樣老化的嗎?未必!是的，我們是有一些模型，但是FinFET和平面型芯片不同。這是我們第一次面對發(fā)生在汽車中的嚴(yán)重的電子升級問題。當(dāng)你把復(fù)雜SoC放在汽車中時，你會看到通常與復(fù)雜SoC相關(guān)的各種問題。”

　　這些問題的范圍極廣，從完全失效到更微妙的時序問題都可能涵蓋在內(nèi)。

　　“業(yè)界已經(jīng)開展了預(yù)測性維護(hù)工作，”UltraSoC首席執(zhí)行官Rupert Baines表示。 “像恩智浦、意法半導(dǎo)體、英飛凌和英特爾這樣的芯片公司正在片上編寫復(fù)雜的代碼，像博世和德爾福這樣的汽車電子零部件公司正在分層開發(fā)更多的軟件。他們需要驗證、認(rèn)證和分析，以便在芯片公司的保障之外再添加一層防火墻。如果有一個bug，你肯定想要捕獲它并確保它不會導(dǎo)致問題。如果系統(tǒng)被黑客入侵，您肯定想得到通知和提醒。但是你需要在芯片運(yùn)行的同時檢測出bug、黑客攻擊和安全問題?！?/p>

　　通常情況下，智能手機(jī)或服務(wù)器中的這些問題都會在若干年內(nèi)通過包括軟件更新在內(nèi)的諸多方法得到解決，自動駕駛汽車也可能復(fù)制這種路徑。不過，目前整個汽車行業(yè)正在全力以赴追趕或超越特斯拉，唯一的超車方式就是使用電子產(chǎn)品。

　　“可靠性的典型學(xué)習(xí)周期是一年兩次，”PDF Solutions新產(chǎn)品和解決方案副總裁Klaus Schuegraf說。 “首先，你需要制造出來產(chǎn)品，這需要兩到四個月的時間，然后封裝它，給它燒錄軟件，這又需要一個季度。所以，從開始制造到燒錄軟件需要歷時半年，你每年大約會經(jīng)歷兩次學(xué)習(xí)周期。這是將這些高性能、高可靠性技術(shù)推向市場以實現(xiàn)高性能計算的一部分挑戰(zhàn)。你可能會遇到一兩個ppm故障率問題，使得無法提供和先前節(jié)點一樣的質(zhì)量。這些故障都延長了處理時間，當(dāng)然，發(fā)現(xiàn)這些難題并定位它們也需要時間?！?/p>

　　生產(chǎn)中的變化也是導(dǎo)致可能出錯的一個原因。

　　“你當(dāng)然可以保證生產(chǎn)質(zhì)量，但實現(xiàn)起來非常困難，”聯(lián)華電子營銷總監(jiān)John Chen說。 “和8英寸晶圓相比，12英寸晶圓將在中心提供更好的均勻性，但在晶圓邊緣比8英寸晶圓更加難以保持均勻性。所以你可以改回200mm晶圓，以降低故障率并最大限度地減少產(chǎn)品變化。問題在于你不一定知道如何將其用于汽車行業(yè)，有時你必須在工藝上向后退一步而不是轉(zhuǎn)向最先進(jìn)的節(jié)點?！?/p>

　　所有人都在關(guān)注AI

　　在輔助駕駛和自主駕駛汽車領(lǐng)域，最受關(guān)注的一個熱點是如何讓汽車通過意料之中和意料之外的障礙，適應(yīng)不斷變化的道路狀況，滿足不同的交通規(guī)則。由于汽車行業(yè)的設(shè)計周期較長，為了避免過時，汽車制造商現(xiàn)在正在研究7nm AI芯片。此外，他們還在考量各種封裝方案，比如多芯片模塊以及22，18，12nm的FD-SOI。他們正在權(quán)衡需要把多少邏輯集中到一起，為了盡量避免數(shù)據(jù)傳輸，可以在更接近傳感器的位置進(jìn)行多少處理。

　　無論采用什么樣的方法，都有許多變量和移動部件使得很難收集到足夠的數(shù)據(jù)。

　　“你認(rèn)為車內(nèi)的人工智能器件溫度都得到了良好控制，”三星代工營銷高級總監(jiān)Bob Stear表示?！暗?，更多的智能應(yīng)該在終端節(jié)點上實現(xiàn)。我們現(xiàn)在正在對汽車進(jìn)行特征化，現(xiàn)在面向汽車芯片有28nm和18nm FD-SOI，和‘1級合格’的14nm，預(yù)計到今年年底還會提供7nm?！?/p>

　　工藝只是控制溫度的一個手段。其它因素還包括內(nèi)存，溫度也和這些芯片的封裝形式有關(guān)，封裝對溫度的影響可能會成為一個獨立的問題。

　　格羅方德產(chǎn)品線管理高級主管Jamie Schaeffer表示：“我們已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，當(dāng)你在一個MCU上堆疊NVM時，封裝的接口會在高溫下失效。這里的關(guān)鍵要求之一是存儲器和嵌入式MRAM必須能夠承受150°C的結(jié)溫，這個溫度滿足汽車級別1?！?汽車級別0需要在175°C下認(rèn)證。)

　　現(xiàn)在的問題是，用于自動駕駛汽車的AI芯片并沒有唯一的最佳架構(gòu)或制造方案，也沒有公認(rèn)的將傳感器封裝在一起，或者確定哪些數(shù)據(jù)該在哪里的最佳方法。而且，關(guān)于哪里才是汽車邊緣，每個架構(gòu)之間以及每個制造商之間也沒有統(tǒng)一的概念。

　　還缺少什么?

　　那么，汽車OEM和半導(dǎo)體制造商這兩個世界該如何充分鏈接?一種方法是交叉教育，不論需要耗費多少時間，這種方法都是必須的。

　　Coventor首席技術(shù)官David Fried說，“大概30多年前，我們經(jīng)歷了一次演變，當(dāng)時可不是現(xiàn)在這種無晶圓廠的情況。那時候，每家公司都制造自己設(shè)計的產(chǎn)品，然后我們變革了半導(dǎo)體行業(yè)，走向無晶圓廠和代工廠模式。一切都朝著不同的方向發(fā)展了。無晶圓廠的人說，他們甚至都不想知道晶圓廠到底是怎么樣制造他們設(shè)計的芯片的?！阒恍枰o我設(shè)計規(guī)則，我設(shè)計好它，就應(yīng)該有較高的良率，如果做不到，那就是你們晶圓廠的問題。’可是現(xiàn)在情況變得更加復(fù)雜了，無晶圓廠和代工廠的邊界越來越小了?，F(xiàn)在無晶圓廠的人必須了解晶圓廠中發(fā)生的許多事情，他們已經(jīng)接受了這一點而且希望這么做。從某種程度上來說，半導(dǎo)體行業(yè)正以這種方式重新聚合在一起。當(dāng)然，這些無晶圓廠公司購買或建造晶圓廠的情況未必出現(xiàn)，但是他們已經(jīng)開始走到了一起。有些硅片生產(chǎn)專家現(xiàn)在在無晶圓廠設(shè)計公司工作，因為無晶圓廠公司必須知道芯片是怎樣制造出來的，才會拿出更好的設(shè)計，讓他們的產(chǎn)品更好地發(fā)揮作用?！?/p>

　　Fried并不是唯一看到這種趨勢的人。事實上，從設(shè)計前端到后端制造，人們都慢慢達(dá)成了共識。

　　“這畢竟是兩個不同的專業(yè)知識領(lǐng)域，”Synopsys汽車戰(zhàn)略副總裁Burkhard Huhnke表示?！皬谋举|(zhì)上來說，汽車仍然是以機(jī)械科學(xué)為主導(dǎo)的行業(yè)。但是現(xiàn)在，突然一切都電動化了，你需要逆變器、IGBT等高壓元件，你需要模擬一切瞬態(tài)特性，這些東西可能是汽車公司未來的核心競爭力。不過現(xiàn)在，這種變化才剛剛開始，智能手機(jī)行業(yè)和其它臨近行業(yè)的許多新人正在進(jìn)入汽車領(lǐng)域?！?/p>

　　不過，我們需要以不同于半導(dǎo)體行業(yè)的方式看待從設(shè)計到制造整個鏈條的汽車供應(yīng)鏈。

　　“汽車行業(yè)之前遵循的是一種瀑布模型，”弗勞恩霍夫自適應(yīng)系統(tǒng)部工程設(shè)計方法部門主管Roland Jancke說?！捌囍圃焐虝虿┦阑蛘吆＠@樣的一級供應(yīng)商提供技術(shù)規(guī)格，這些一級供應(yīng)商設(shè)計并生產(chǎn)安全氣囊或電機(jī)控制系統(tǒng)這些汽車上的系統(tǒng)。一級供應(yīng)商選擇二級供應(yīng)商，比如哪個提供芯片，那么提供阻容等。每一級供應(yīng)商都會把技術(shù)規(guī)格提供給下一級，決定如何劃分系統(tǒng)，并給子系統(tǒng)提供更深一層的規(guī)范。但是現(xiàn)在這個模型不再奏效了，因為它傳導(dǎo)得太慢了，而且鏈條上給出的信息確實不夠。這個傳導(dǎo)鏈條太長，有些信息也沒有反饋上來。因此，汽車制造商并不完全了解他們當(dāng)他們想了解汽車中的某些技術(shù)時會得到哪些信息。”

　　另一方面，汽車公司需要了解模擬時數(shù)據(jù)是怎么使用的，需要依賴使得半導(dǎo)體行業(yè)蓬勃發(fā)展的各種數(shù)據(jù)。

　　ANSYS的首席技術(shù)專家JoaoGeada說：“當(dāng)有現(xiàn)實世界的數(shù)據(jù)時，并非所有數(shù)據(jù)都是被模擬出來的。還有一些來自強(qiáng)制老化的數(shù)據(jù)，強(qiáng)制老化是指將芯片/設(shè)計處于極端條件(高溫、高電壓、快速工藝角)下測試，并延長時間以最大化老化效應(yīng)。它們提供了一些驗證模擬數(shù)據(jù)的真實數(shù)據(jù)。我們(EDA)在模擬方面做得非常好，非常準(zhǔn)確。一旦有一些數(shù)據(jù)點能夠確認(rèn)模擬結(jié)果可以匹配上觀測結(jié)果，人們就會相信模擬的力量。”

　　然而，這些對汽車行業(yè)來說都是新課題，而且在某些領(lǐng)域并不存在和所有這些電子系統(tǒng)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)。

　　“是有一些標(biāo)準(zhǔn)，如JEDEC標(biāo)準(zhǔn)、ISA規(guī)范、IEEE標(biāo)準(zhǔn)，”Fraunhofer的Jancke說?！暗渲幸恍┦窃?0年前確定的。在功能安全域中，您需要為這些標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置組件的故障率。但是這些供應(yīng)商提供的故障率來自大約30年前建立起來的表格，因此它們不再有效或不再有意義了。這些標(biāo)準(zhǔn)需要進(jìn)行改進(jìn)，以適應(yīng)我們現(xiàn)在的技術(shù)?！?/p>

　　結(jié)論

　　上面這些方法最終如何融合到一起，現(xiàn)在還很難判斷。不過它們足夠讓車輛中很多功能電動化，更不用說讓它們在可接受的參數(shù)范圍內(nèi)運(yùn)行了。數(shù)據(jù)將是決定這種進(jìn)展的關(guān)鍵要素，但是進(jìn)展速度有多快，向哪個方向發(fā)展目前還不完全清楚。

　　“幾十年來，汽車行業(yè)一直在獲取IC的可靠性數(shù)據(jù)，”西門子子公司Mentor總裁兼首席執(zhí)行官Wally Rhines表示?！暗呛盖?、凸塊以及其他類型的制造數(shù)據(jù)仍然相當(dāng)有限，因為出貨單位和包含先進(jìn)封裝的設(shè)計仍然很少。工業(yè)和制造業(yè)需要足夠的數(shù)據(jù)點來保證質(zhì)量和可靠性，但他們需要的數(shù)據(jù)量可能與過去不同。我們?nèi)蕴幱趯λ羞@些數(shù)據(jù)進(jìn)行分類的階段?！?/p>

　　這個階段何時完成，所有這些不同世界整合起來后會是什么樣子，這些答案依然只能存在于人們的猜測中。