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百佳泰選擇力科USB 3.0測試套件來完成USB3.0的兼容性測試

  •   力科公司宣布百佳泰測試實(shí)驗(yàn)室已選擇力科的USB 3.0測試套件來完成USB3.0的兼容性測試。百佳泰將利用LeCroy的測試設(shè)備為USB3.0制造商提供全面的物理層和協(xié)議層、發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的測試。除了USB3.0,力科將為百佳泰提供測試SATA和其它高速串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的完整解決方案。   “LeCroy的USB 3.0的測試套件是完全集成了發(fā)射機(jī)和接收機(jī)測試的解決方案,能滿足USB3.0一致性測試要求,”James Ou, 百佳泰的個人應(yīng)用程序測試中心主任認(rèn)為,“L
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基于FPGA和USB2.0的高速CCD聲光信號采集系統(tǒng)

  • 0引言在現(xiàn)代通信和雷達(dá)領(lǐng)域中,寬帶、高增益、實(shí)時并行處理是現(xiàn)代接收機(jī)的重要標(biāo)志。因而,這種具有...
  • 關(guān)鍵字: FPGA  USB2.0  高速CCD  聲光信號采集  

USB 3.0及測試解決方案

  • Agilent 的測試解決方案滿足 USB 所有變體的一致性測試需要。通過選擇 Agilent 示波器、BERT、網(wǎng)絡(luò)分析儀和邏輯分析儀、各種特定的 USB 測試應(yīng)用程序和夾具,能快速和精確地測試您的USB設(shè)計(jì),以確保符合一致性要求。
  • 關(guān)鍵字: Agilent  USB3.0  一致性測試  Infiniium 90000  201003  

英特爾預(yù)計(jì)USB3.0主流應(yīng)用要等到2012年

  •   超高速USB3.0標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)出現(xiàn)一段時間了。但是,它還沒有廣泛應(yīng)用。雖然有許多具有USB3.0功能的閃存硬盤、硬盤和其它外部存儲設(shè)備,但是,還有許多因素在繼續(xù)限制這個新接口的應(yīng)用。主要問題是缺少英特爾(博客)和微軟的聯(lián)合的支持。這就意味著USB3.0設(shè)備廠商必須繼續(xù)依靠 EMC的芯片,而OEM廠商還在等待微軟Windows本地支持這個接口。因此,速度為每秒4GB的USB3.0解決方案很可能在2012年年初成為主流應(yīng)用。   Windows7的推出時間不長,但是,微軟已經(jīng)在研制下一個版本的操作系統(tǒng),也就
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USB 3.0端口的ESD保護(hù)方案

  • 無處不在的通用串行總線(USB)接口即將迎接又一次換代,以便緊跟連接帶寬需求不斷增長的步伐。USB3.0或所謂“超高速USB”預(yù)計(jì)將在傳輸速度、電源管理和靈活性方面向前跨越一大步。USB 3.0的開發(fā)方向包括提供更高的傳輸
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英特爾稱Windows 8時代USB 3.0才會成主流

  •   雖然USB 3.0接口已經(jīng)體現(xiàn)出了明顯的速度優(yōu)勢,且廣為用戶期待,但I(xiàn)ntel、AMD的芯片組短期內(nèi)都不打算為其提供原生支持。Intel芯片組產(chǎn)品線營銷總監(jiān)Steve Peterson在德國漢諾威參加CeBIT全球會議時更是直言,他認(rèn)為只有到了微軟的下一代客戶端操作系統(tǒng)Windows 8普及的時代,USB 3.0才會真正成為主流。   Windows 7發(fā)布于去年十月底,在那時候其繼任者就早已提上開發(fā)日程。按照目前的普遍預(yù)計(jì),Windows 8最早有望在2011年底發(fā)布,但也有可能要等到2012年,
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恩智浦為USB 3.0和eSATA推出ESD保護(hù)設(shè)備

  •   恩智浦半導(dǎo)體(NXP Semiconductors)日前宣布,為USB 3.0和eSATA之類的高速差分接口推出一種新的ESD保護(hù)設(shè)備IP4284CZ10。IP4284CZ10提供了業(yè)內(nèi)最低的差分串?dāng)_及完美的線路到線路電容匹配和直通布線能力,優(yōu)化了信號完整性。IP4284CZ10提供了8kV的接觸放電ESD保護(hù)能力,符合IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)第四級。   USB 3.0和eSATA同時傳送和接收信號,對ESD設(shè)備提出了嚴(yán)格的信號完整性要求,這些要求在以前的USB 2.0, HDMI和Displ
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利用USB2.0技術(shù)的高速雙路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

  • 摘要:本文設(shè)計(jì)了一種基于USB2.0芯片CY7C68013和Maxim公司的高速并行模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片MAX1195的高速雙路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),采用EZ-USB FX2 的特有的GPIF(General Programmable Interface)傳輸方式,徹底打破了8051CPU對USB2
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USB 3.0電路保護(hù)方案

  •   無處不在的通用串行總線(USB)接口即將迎接又一次換代,以便緊跟連接帶寬需求不斷增長的步伐。USB3.0或所謂“超高速USB”預(yù)計(jì)將在傳輸速度、電源管理和靈活性方面向前跨越一大步。USB 3.0的開發(fā)方向包括提供更高的傳輸率、提高最大總線功率和設(shè)備電流、提供全新的電源管理功能以及向下兼容USB2.0的新型電纜和連接器。而最顯著的變化是新增了一條與現(xiàn)有USB 2.0總線并行的物理總線,見圖1。   USB 3.0電流傳輸能力的提高強(qiáng)化了對全新電路保護(hù)方案的需求。一種協(xié)同電路
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基于USB2.0的高性能移動存儲設(shè)備的設(shè)計(jì)

  •   1.引言  閃存盤(FLASH MEMORY)是USB接口的一種典型應(yīng)用,1999年朗科研發(fā)出全球第一款USB閃存盤,成功啟動了全球閃存盤行業(yè)。由于閃存是一種基于半導(dǎo)體的存儲器,信息在斷電后可以保存,并且還具有低功耗、速
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USB3.0的靜噪對策

  • 本文就來驗(yàn)證一下USB3.0 SuperSpeed使用以前的共模扼流線圈時出現(xiàn)的問題,并介紹能夠應(yīng)用于USB3.0 SuperSpeed的新共模扼流線圈產(chǎn)品。
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USB3.0過電流保護(hù)PPTC組件應(yīng)用解決方案

  • 隨著高新技術(shù)的不斷提升,外圍設(shè)備也在不斷更新?lián)Q代,在USB應(yīng)用方面,USB3.0除了提升速度外,同時對電力的供應(yīng)也有所提高。針對業(yè)界常用的過電流保護(hù)組件高分子正溫度系數(shù)熱敏電阻(PPTC)做介紹,并于在USB 3.0的應(yīng)
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USB3.0的物理層接收端的測試方法

  •   USB3.0的Receiver測試的兩種方法   由于USB3.0的速率高達(dá)5Gbps,在USB3.0規(guī)范中接收機(jī)測試成為必測項(xiàng)目。接收機(jī)測試包括了誤碼率測試和接收機(jī)抖動容限測試兩部分。   對于Receiver Compliance測試,需要使用誤碼率測試儀BERT(Bit Error Ratio Tester,簡稱BERT),比如力科的PeRT3。BERT由Pattern Generator和Error Detector組成。如下圖1左圖所示為傳統(tǒng)的BER測試和抖動容限測試的示意圖。BERT的
  • 關(guān)鍵字: 力科  USB3.0  接收端  

力科在發(fā)布PCIe 3.0綜合測試解決方案

  •   第一個支持PCIe 3.0的高性能通訊發(fā)生器和練習(xí)器 Summit Z3-16 Exerciser   同步2臺WaveMaster 8 Zi 在4通道上同時提供30GHz帶寬的Zi-8CH-SYNCH同步器   第一個針對PCIe集成了示波器和協(xié)議分析儀的ProtoSync PE   第一個嵌入到仿真軟件的PCIe協(xié)議分析儀SimPASS   2010年2月2日,力科在DesignCon 2010上首次公布將PCIe 3.0測試解決方案延伸到芯片開發(fā)的所有階段。此外,力科還發(fā)布了Zi-8CH
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富士通USB 3.0-SATA橋接芯片獲得USB-IF產(chǎn)品認(rèn)證

  •   富士通微電子(上海)有限公司近日宣布富士通微電子的USB 3.0-SATA橋接芯片已通過美國USB Implementers Forum(USB-IF,USB接口的標(biāo)準(zhǔn)化團(tuán)體)的產(chǎn)品認(rèn)證,并獲得認(rèn)證證書。   富士通MB86C30橋接芯片已經(jīng)通過USB-IF產(chǎn)品質(zhì)量的合格測試。與USB 2.0器件相比,MB86C30將外部存儲設(shè)備(如硬盤驅(qū)動)至電腦的數(shù)據(jù)傳輸率提高了一個數(shù)量級。另外,該芯片還內(nèi)置USB通信控制電路、SATA通信控制電路、協(xié)議控制和命令控制電路以及加密/解密引擎。   富士通微電子
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