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溫度自適應性DRAM刷新時鐘電路

作者: 時間:2009-10-10 來源:網(wǎng)絡 收藏
0 引 言
動態(tài)存儲器中的數(shù)據(jù)以電荷形式存儲在電容中,因為MOS晶體管漏電,電荷會逐漸漏失,最終造成數(shù)據(jù)丟失。所以,動態(tài)存儲器就需要不斷對數(shù)據(jù)進行刷新,補充電荷。由于漏電流的大小受影響較大,導致電荷在存儲器電容中的保持時間隨著改變而改變。傳統(tǒng)的刷新電路產(chǎn)生刷新信號的時鐘周期是預先設計好的,固定不變,無法根據(jù)的變化自己調節(jié)周期,因此,傳統(tǒng)的刷新電路設計的刷新時鐘是基于高溫的情況,刷新頻率很快,這樣就使得常溫的時候刷新比較頻繁,消耗大量功耗。
本文提出一種具有溫度自適應的刷新,其頻率隨著溫度上升而上升。電路由基本的MOS管構成,利用了Diodes方式(二極管方式)連接的MOS管電流隨溫度變化的特點。電路不僅具有溫度特性,降低了功耗,而且占面積小,與一般的CMOS工藝完全兼容,不需要工藝上的特殊處理。

1 電路結構
圖1給出刷新示意圖。電路左邊是一條反相器反饋鏈,反相器鏈輸出和使能信號EN共同控制一個兩輸入端的與非門,與非門的輸出連接上拉管MP1的柵極,下拉管MN1柵極和刷新電路的時鐘輸出;反相器鏈輸入端連接的是電容C1,而且反相器鏈的輸入端的第一個反相器是施密特反相器。電路的右邊是時鐘調整單元。時鐘調整單元主要由一條充放電的通路構成,通路由3個基本的MOS管組成,其中上拉管MP1受與非門輸出控制,用于對電容C1進行充電;下拉管MN0也受與非門輸出控制,其狀態(tài)正好與MP1管相反,用于開啟放電通路,對電容C1進行放電;放電管MP0主要用于對電容C1放電,以Diodes方式連接。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/188577.htm

2 電路工作原理
電路上電后,EN信號使能,電容C1沒有儲存電荷,Vcap點電壓為低電壓“0”,通過反相器鏈的反饋作用,N0點電壓是低電壓“0”,上拉管MP1開啟,下拉管MN1關閉,電源對電容C1充電,MP1的尺寸比較大,所以充電速度比較快,電容C1迅速被充到高電平。當電容C1電壓超過了施密特反相器的上翻轉點(假設為VM+,VM+>Vdd/2),反相器鏈開始轉變狀態(tài),通過反相器鏈的傳播,在N0點處,電壓變?yōu)楦唠娖健?”,迫使上拉管MP1關閉,下拉管MN1開啟,電容C1停止充電,開始通過放電通路泄放電荷,電容電壓Vcap開始下降。當電容電壓低于施密特反相器的下翻轉點(假設為VM-,VM-Vdd/2),反相器狀態(tài)改變,經(jīng)過反相器鏈,N0點電壓處重新變?yōu)榈碗娖健?”,上拉管MP1開啟,下拉管MN1關閉,電容又重新開始充電過程。在反復的充放電過程中,電路在OUT點產(chǎn)生了振蕩時鐘。

對于MOS電容C1,可以近似認為是平板電容:
C*U=Q
式中:C為電容大小,U為電容電壓(即Vcap點電壓)。隨著放電通路開啟,電容C1中的電荷Q逐漸漏失,電容的大小C不變,電容電壓U開始下降。同時,對于放電通路,MP0管以DIODES方式連接,MP0一直處于飽和狀態(tài),對于飽和電流公式:


式中:Vth是閾值電壓,Vgs是柵源電壓。Ugs對應于電路上就是MP0管兩端電壓,又由于MN1是下拉管,尺寸大,所以放電通路開啟后,MP1管的柵端和漏端電壓基本等于地電壓,而且MP1管的源端又連接在電容上,所以,可以認為Vgs就是電容電壓。因為電容電壓隨著漏電下降,即Vgs隨漏電下降。所以根據(jù)飽和電流公式,電流Ids呈平方關系減小。隨著Ids減小,電容電荷漏失的速度變慢,電容電壓下降的速度也隨之變慢。
圖2說明的是以Diodes方式連接的晶體管,不同溫度下的電流和柵源電壓之間的關系。當柵源電壓比較高的時候,高溫時的飽和漏電流比低溫時的電流要低;相反地,當柵源電壓下降到閾值電壓附近,高溫時的飽和漏電流就比低溫時的電流要高。利用低柵源電壓的電流的溫度特性,高溫時,飽和漏電流Ids比低溫時大,電容C1的電壓下降得快,更快到達施密特反相器翻轉點VM-,電路振蕩時鐘周期就會比較短,相應地,其頻率就更快,就能夠體現(xiàn)出時鐘溫度的特性。


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關鍵詞: DRAM 溫度 時鐘電路

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