一種OTP存儲器片上時序信號產(chǎn)生電路的設(shè)計
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在TSMC 0．18μm工藝下，整體電路的仿真結(jié)果如圖4所示。當(dāng)ATD_OUT的低電平到來時(圖2中垂直豎線標記處)，就像前面2．2節(jié)分析的一樣，WOUT變?yōu)榈碗娖剑划?dāng)ATD_OUT的低電平結(jié)束即上升沿到來時，NET5上的寄生電容被充電，圖4中可以看出NET5的電位逐漸抬升；當(dāng)上升到反相器INV1的開關(guān)閾值VM時，從圖4中可以看出NET6發(fā)生從低到高的翻轉(zhuǎn)；從圖中可以看到NET6發(fā)生從低到高的翻轉(zhuǎn)使WOUT拉高；同時NET3也被拉高，迫使N6開啟將NET5清零，從圖4中可以看到NET5在被充電到VM后瞬間被拉低，NET6也瞬間變?yōu)?。從圖4的仿真結(jié)果可以很清楚的看出，WOUT的寬度主要由NET5充電時間T決定(還加上一個ATD_OUT自身的寬度)。控制T就可以控制WOUT的寬度。本文引用地址：http://butianyuan.cn/article/193301.htm
3 結(jié)束語
文中設(shè)計的電路的主要功能是產(chǎn)生一個時序信號源。類似于自定時方法。例如，將該信號作為控制信號的信號源，可以通過簡單的延時、與、或等操作派生出相應(yīng)的控制信號，這些信號就可用于控制存儲器內(nèi)部各功能模塊如靈敏放大器以及鎖存器等。該電路的特點是時序信號源的寬度可控，通過調(diào)整電容或者充電電流可以得到不同的輸出脈沖的寬度，這可以結(jié)合存儲器中所需要的控制信號的寬度來決定。
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