三星 8LPP 工藝參考流程利用 Mentor Tessent 工具節(jié)省大量設(shè)計(jì)測試時(shí)間

　　Mentor, a Siemens business 今天宣布，三星電子有限公司根據(jù)三星代工廠的 8nm LPP(低功耗 Plus)工藝對(duì) MentorTessent? 產(chǎn)品進(jìn)行了認(rèn)證。對(duì)于針對(duì)移動(dòng)通信、高速網(wǎng)絡(luò)/服務(wù)器計(jì)算、加密貨幣和自動(dòng)駕駛等市場的特大型設(shè)計(jì)，這些工具可大幅縮短設(shè)計(jì)和測試時(shí)間。

　　當(dāng)今領(lǐng)先半導(dǎo)體器件的特大型設(shè)計(jì)可能會(huì)因需要大量計(jì)算資源、測試向量生成時(shí)間太長或在設(shè)計(jì)流程中執(zhí)行得太晚而受到拖累。TessentTestKompress? 工具通過提供采用層次化可測試性設(shè)計(jì) (DFT) 方法的自動(dòng)功能來解決這些問題。三星代工廠解決方案參考流程包括在寄存器傳輸級(jí) (RTL) 設(shè)計(jì)階段早期自動(dòng)插入的 TestKompress 掃描壓縮邏輯控制器和 Tessent ScanPro 片上時(shí)鐘控制器。只要內(nèi)核設(shè)計(jì)準(zhǔn)備就緒，Tessent TestKompress 即可用于在設(shè)計(jì)流程早期創(chuàng)建該內(nèi)核的測試向量。這些測試向量可直接重復(fù)使用，并自動(dòng)重定向到全芯片設(shè)計(jì)。因此，可將用于自動(dòng)測試模式生成 (ATPG) 的計(jì)算資源和 ATPG 運(yùn)行時(shí)間提高一個(gè)數(shù)量級(jí)。Tessent 層次化 DFT 流程中不需要完整的器件網(wǎng)表。

　　“在 EUV 時(shí)代之前推出的這些工藝中，從性能、功耗和面積方面考慮，我們的 8LPP 都是最佳之選?！比请娮哟な袌鰻I銷副總裁 Ryan Lee 說道?！拔覀兣c Mentor 長期合作，這將使我們的 8LPP 對(duì)雙方客戶而言更具吸引力。Mentor 的 Tessent TestKompress 層次化 DFT 解決方案是此類技術(shù)的一個(gè)例子，將節(jié)省大量測試生成周轉(zhuǎn)時(shí)間?！?/p>

　　Tessent TestKompress 工具用于將掃描數(shù)據(jù)輸入共享到 MCP(多核處理器)設(shè)計(jì)中的眾設(shè)計(jì)內(nèi)核。共享輸入管腳可實(shí)現(xiàn)更高級(jí)別的測試向量壓縮，而這關(guān)系到降低生產(chǎn)測試成本。Tessent Diagnosis 和 TessentYieldInsight? 工具用于查找系統(tǒng)性良率限制因素并提高制造良率。這些工具包括執(zhí)行反向模式映射的自動(dòng)化，可令失效生產(chǎn)模式直接映射到與其相關(guān)的層次化模塊。對(duì)目標(biāo)模塊執(zhí)行診斷可以大大縮短診斷時(shí)間，減少計(jì)算資源。

　　“規(guī)模更大且更加復(fù)雜的設(shè)計(jì)需要額外的 DFT 和自動(dòng)化才能滿足上市時(shí)間和測試成本要求，而借助三星代工廠的 8LPP 便可以實(shí)現(xiàn)?！盡entor Tessent產(chǎn)品系列營銷總監(jiān) Brady Benware 說道?！霸搮⒖剂鞒讨械年P(guān)鍵功能，如層次化 DFT，目前被業(yè)界廣泛采用，對(duì)于此新工藝技術(shù)的成功至關(guān)重要。”