新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 新品快遞 > 三星和Cadence發(fā)布20納米數(shù)字設計方法

三星和Cadence發(fā)布20納米數(shù)字設計方法

—— 這一先進設計方法表明20納米設計和制造技術業(yè)已就緒
作者: 時間:2012-06-07 來源:電子產品世界 收藏

  全球電子設計創(chuàng)新領先企業(yè)設計系統(tǒng)公司(納斯達克: CDNS) 日前宣布,電子與合作推出設計方法,包含雙重圖形光刻(double patterning)技術,面向共同用戶的開發(fā)和內部測試芯片。的合作為移動消費電子產品帶來了新的工藝進展,使得及未來工藝節(jié)點設計成為可能。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/133298.htm

  電子設備解決方案部門系統(tǒng)LSI設計技術團隊副總裁Kee Sup Kim博士說:“我們致力于移動消費電子領域,需要更有效的方法創(chuàng)新,并幫助我們的客戶開發(fā)差異化產品。通過與Cadence合作,我們開發(fā)了這種設計工藝,利用現(xiàn)有最先進技術,如雙重圖形光刻技術,使先進的工藝節(jié)點設計受益。

  雙重圖形光刻(double patterning)技術是一種新的關鍵光刻方法,為先進的工藝節(jié)點提供更高的布線密度。雙重圖形光刻技術把每個金屬設計層分為兩個芯片結構掩膜,為20納米及更高節(jié)點的工藝實現(xiàn)更高的金屬密度和更小的硅晶體面積。

  這是三星與Cadence多年全面合作開發(fā)先進工藝節(jié)點集成電路的最新里程碑。Cadence® Encounter® RTL-to-GDSII 流程, Virtuoso® 定制/模擬流程,以及Cadence簽收解決方案都通過三星20納米制造流程的認可和應用。

  對于芯片的數(shù)字部分, Encounter Digital Implementation(EDI)系統(tǒng) 提供了一種用于雙重圖形更正布局和布線的自動化方法,采用了申報中的專利技術實時著色FlexColor。EDI系統(tǒng)在布局、優(yōu)化和布線過程中提高芯片面積使用率和DRC精度。對于最終簽收,工程師們采用了Cadence Encounter Timing System、Encounter Power System和QRC Extraction,通過增強技術簽收多重參數(shù)提取,在雙重圖形校值中處理變異。

  Cadence硅實現(xiàn)部門研發(fā)高級副總裁Chi-Ping Hsu博士指出:“我們與三星的深度合作始于32納米技術,并在芯片設計和制造方面不斷帶來重要發(fā)展。三星在先進節(jié)點方面的制造經驗加上我們面向20納米設計的工具和方法是這個項目成功的關鍵。我們希望通過與三星的合作,實現(xiàn)更多的技術進步,使用戶在20納米及更高工藝節(jié)點方面受益。



關鍵詞: Cadence 三星 20納米

評論


相關推薦

技術專區(qū)

關閉